NEC面部識(shí)別技術(shù)在美國NIST測評(píng)中榮獲第一名

　　美國標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院受美國國土安全部委托，舉辦了“廠商評(píng)價(jià)項(xiàng)目?靜止面部圖像部門”的評(píng)比測試。在此次測試中，NEC的面部識(shí)別技術(shù)榮獲得了世界第一。NEC能夠在世界主要的廠商中脫穎而出，獲此殊榮，有力證實(shí)了其在面部識(shí)別方面的技術(shù)優(yōu)勢。

　　NEC參加的“靜止面部圖像部門”測評(píng)，是以高像素?cái)?shù)碼相機(jī)所拍攝的面部圖像、IC護(hù)照中被縮小壓縮的面部圖像、以及在大廳及走廊等光線不充分或者在室外太陽直射的不利條件下所拍攝的面部圖像為測評(píng)對(duì)象。由于這些限制條件在實(shí)際應(yīng)用中確實(shí)會(huì)遇到，所以此次測評(píng)所獲得的評(píng)價(jià)，也可以用來證明實(shí)際應(yīng)用中技術(shù)性能的指數(shù)。

　　在這次測評(píng)中，NEC的誤判率(將他人誤認(rèn)為本人的概率)僅為0.1%，比對(duì)失敗率(沒有識(shí)別出本人的概率)為2~4%(注2)，以明顯優(yōu)勢獲得第一名。

　　NEC之所以能夠達(dá)到如此高的識(shí)別率算法，乃是采用了2002年上市的面部特征點(diǎn)抽取/面部比對(duì)引擎“NeoFace”(注3)中的多重比對(duì)面部特征點(diǎn)抽取法和空間攝動(dòng)法,并在此基礎(chǔ)上應(yīng)用了NEC中央研究院開發(fā)的不受照明、面部的朝向等環(huán)境影響的個(gè)人特征抽取新技術(shù)，才得以實(shí)現(xiàn)的。

　　NIST舉辦的這次技術(shù)廠商測評(píng)活動(dòng)，是針對(duì)惡性、大范圍、多樣型犯罪，以積極促進(jìn)面部識(shí)別技術(shù)的研發(fā)和早日應(yīng)用為目的。此次測試，得到了美國國土安全部、司法部、FBI、國防部的支持與贊助，測試結(jié)果受到了世界的廣泛關(guān)注。

　　NEC在全世界率先開始生物識(shí)別技術(shù)的研究與開發(fā)，其中指紋認(rèn)證技術(shù)研發(fā)

　　擁有40年歷史，面部識(shí)別技術(shù)也有20年歷史。在NIST主辦的技術(shù)評(píng)比中，NEC曾于2004年獲得“指紋識(shí)別技術(shù)”第一名。此次，在面部識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域又獲得第一名的殊榮，再次有力證實(shí)了NEC在生物識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域擁有的實(shí)力。NEC的面部識(shí)別技術(shù)不僅在日本，在香港(中國)、智力等國家和地區(qū)，也被廣泛應(yīng)用于警察、司法機(jī)關(guān)、出入境管理、娛樂設(shè)施等領(lǐng)域。今后，NEC會(huì)再接再厲，繼續(xù)向世界提供采用最高技術(shù)的生物識(shí)別解決方案。