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          NI推出兩個(gè)新的射頻信號(hào)調(diào)理模塊

          作者: 時(shí)間:2010-02-01 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱)近日宣布推出兩個(gè)新的模塊,能增強(qiáng)基于PXI的和微波測試系統(tǒng)的測量精確度和靈活性,從而使該公司自動(dòng)化測試產(chǎn)品線進(jìn)一步擴(kuò)大。在諸如信號(hào)路徑損耗建模,場強(qiáng)測量和接收器測試應(yīng)用中,工程師們可將新的 PXI - 5695的 8 GHz可編程射頻衰減器與矢量信號(hào)發(fā)生器(VSG)相結(jié)合,以改善低功率水平下的射頻信號(hào)質(zhì)量。工程師們可以將 PXI-5691 8 GHz 可編程射頻前置放大器同VSG相結(jié)合,以提高最大功率,也可以與矢量信號(hào)分析儀(VSA)相結(jié)合以測量較小的信號(hào)。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/105799.htm

            “測試接受機(jī)靈敏度時(shí),RF功率電平的精確控制是一個(gè)關(guān)鍵要求。”Itron公司測試工程師Jeff May說道(注:Itron是一家智能計(jì)量領(lǐng)域的領(lǐng)先供應(yīng)商,智能電網(wǎng)技術(shù)的先驅(qū)),“NI新型可編程衰減器為我們提供了必須的高精確度,從而能精確控制PXI產(chǎn)品測試裝置中的激勵(lì)電平,這對(duì)于幫助我們保持測試過程中的效率和質(zhì)量具有很大的益處。

            PXI - 5695是一個(gè)50MHz至8GHz的雙通道可編程射頻衰減器,有一個(gè)固定衰減通道和一個(gè)可編程衰減通道。該模塊提供了一個(gè)集成化的射頻功率調(diào)整方式,在許多情況下可以代替射頻產(chǎn)品測試中的開關(guān)衰減器網(wǎng)絡(luò)。工程師可以整合 PXI-5695與射頻信號(hào)發(fā)生器(如NI的 PXIe - 5673 6.6 GHz矢量信號(hào)發(fā)生器),從而更精確地控制信號(hào)功率。最大衰減量可達(dá)60分貝,典型的電壓駐波比 (VSWR) 為1.3:1。這種級(jí)別的控制大大增加了矢量信號(hào)發(fā)生器的動(dòng)態(tài)范圍,也是實(shí)現(xiàn)接收機(jī)靈敏度精確測量的關(guān)鍵。

            PXI - 5691是一個(gè)50MHz至8GHz的雙通道可編程射頻放大器,可以實(shí)現(xiàn)前置放大器和功率放大器兩種功能,具有超過20dBm的最大輸出功率,可高達(dá)60 dB的總增益,0.5dB的增益分辨率,超過31dBm的三階交調(diào)截取點(diǎn)(IP3)以及5dB噪聲系數(shù),該放大器在與射頻信號(hào)發(fā)生器或信號(hào)分析儀連接時(shí)可以充分實(shí)現(xiàn)測量上的靈活性及精確度。當(dāng)與NI PXIe-5663 6.6 GHz矢量信號(hào)分析儀配合使用時(shí),新型放大器可以使工程師們等效實(shí)現(xiàn)-163 dBm的輸入噪底。當(dāng)與NI PXIe – 5673矢量信號(hào)發(fā)生器一起使用時(shí),可以在輸出功率電平高達(dá)20dBm時(shí)產(chǎn)生瞬時(shí)帶寬高達(dá)100MHz的信號(hào)。

            “這些新型射頻模塊增強(qiáng)了PXI平臺(tái)在射頻應(yīng)用中的性能”,NI公司測試產(chǎn)品市場部副總裁Eric Starkloff說道。“我們持續(xù)投資于研發(fā)新的PXI儀器,希望提供一系列商業(yè)可用的解決方案,以幫助工程師們構(gòu)建下一代自動(dòng)化測試系統(tǒng),從而應(yīng)對(duì)復(fù)雜挑戰(zhàn)”。

            作為NI PXI平臺(tái)的一部分,新推出的衰減器和放大器針對(duì)NI LabVIEW圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺(tái)、NI LabWindows™/CVI ANSI C的軟件開發(fā)環(huán)境以及C,C + +、.NET編程進(jìn)行了優(yōu)化。此外,每個(gè)儀器驅(qū)動(dòng)程序都包含LabVIEW范例代碼,可以幫助工程師們利用圖形化編程著手去迅速開發(fā)射頻與微波測試系統(tǒng)。

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