2010數(shù)據(jù)采集全國巡回研討會即將啟動

　　由北京中科泛華測控技術(shù)有限公司(簡稱“泛華測控”)DAQ事業(yè)部舉辦的“2010數(shù)據(jù)采集全國巡回研討會”即將全面啟動。

　　本次研討會將以快速搭建高效精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)為核心，以X系列和CompactDAQ數(shù)據(jù)采集革新技術(shù)為切入點，深度剖析NI公司數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品從入門到高級的具體行業(yè)應(yīng)用。

　　X系列數(shù)采卡憑借高處理能力的PCI Express總線、NI-STC3定時和同步技術(shù)、多核獲得優(yōu)化的驅(qū)動與應(yīng)用軟件，將性能提升至新高度;CompactDAQ將用于USB的NI信號流技術(shù)與真正的即插即用軟件體驗相結(jié)合，在精小便攜、簡單易用、低價位的系統(tǒng)中實現(xiàn)快速精確的測量應(yīng)用。在本次研討會中，我們將就如何利用這些模塊，快速建立一個便捷、易用、安全、可靠、穩(wěn)定而精確的測試測量系統(tǒng)，與各位參會工程師進(jìn)行深入探討，并分享我們歷年來在多領(lǐng)域的成功案例。

　　2009年，DAQ事業(yè)部全國巡回研討會在全國9大城市成功舉辦，有近千名測試測量工程師和國家重點工程項目負(fù)責(zé)人參與其中。今年，研討會將途經(jīng)無錫、北京、廈門、上海、蘇州、天津、杭州、常州、西安、合肥等地，輻射全國，貫穿全年，其覆蓋面之廣、影響之深遠(yuǎn)，是關(guān)注數(shù)據(jù)采集服務(wù)的各類人群不可忽略的交流平臺。

　　作為專業(yè)數(shù)據(jù)采集服務(wù)供應(yīng)商將繼續(xù)幫助企業(yè)不斷提高核心競爭力，最大程度的降低成本，縮短開發(fā)周期，共同開創(chuàng)測試測量行業(yè)的未來!