泰克將在IDF2010上展示最新測試解決方案

　　泰克公司日前宣布，將在4月13日到14日北京國家會議中心舉辦的2010英特爾信息技術(shù)峰會(IDF2010)上展示最新的計算技術(shù)和應(yīng)用如USB3.0、PCI Express 3.0的解決方案。通過業(yè)界領(lǐng)先的示波器、信號發(fā)生器、邏輯分析儀、探頭和相關(guān)軟件，泰克的綜合解決方案將幫助工程師簡化測試復(fù)雜性和所需的時間，使其能在規(guī)定時間內(nèi)成功將新產(chǎn)品推向市場。

　　作為英特爾的長期供應(yīng)商和合作伙伴，泰克多年來一直是IDF參展商。為契合IDF2010的主題，泰克將加入USB應(yīng)用廠商論壇小組，集中展示其為USB 3.0驗證、調(diào)試和自動化一致性測試提供的完整工具組合。

　　SuperSpeed USB (USB 3.0)一致性測試解決方案

　　泰克提供完善的一系列USB3.0工具，把硬件工具與增強的應(yīng)用軟件結(jié)合在一起，可以全面支持所有發(fā)射機、接收機和電纜物理層測試。例如，DPO/DSA70000B系列示波器與新的USB-TX選項相結(jié)合，為驗證USB 3.0發(fā)射機測試提供了自動的一鍵式解決方案，可執(zhí)行包括擴頻時鐘(SSC)、轉(zhuǎn)換、電壓電平等在內(nèi)的多種測試。

　　AWG7000B任意波形發(fā)生器與SerialXpress高級抖動生成工具相結(jié)合，是世界上唯一的全內(nèi)置接收機測試解決方案;帶有IConnect軟件的DSA8200采樣示波器則為分析和檢定復(fù)雜的串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)提供了最完整、最經(jīng)濟的解決方案。

　　PCI Express 3.0端到端測試解決方案

　　泰克為下一代PCI Express 3.0規(guī)范提供了完整的測試解決方案，能夠在單一的工具中執(zhí)行從協(xié)議層到物理層分析。泰克最新發(fā)布的TLA7SA16和TLA7SA08邏輯分析儀模塊，是對現(xiàn)有工具組包括DSA72004B實時示波器配合P7500系列TriMode探頭、AWG7000B任意波形發(fā)生器和DSA8200采樣示波器的重大補充。這種全面解決方案提供了靈活的高性能探測功能，可以準確捕獲PCIe 3.0 8 GT/s 總線業(yè)務(wù)。它可以顯示和分析PCIe協(xié)議，支持TLP和DLLP數(shù)據(jù)包解碼及高達16 GB的軌跡緩沖器，支持調(diào)試快速L0s/L1 Latency L0的PCIe 3.0 ASPM (有效狀態(tài)電源管理)，可以自動跟蹤鏈路速度協(xié)商，執(zhí)行鏈路訓(xùn)練和初始化調(diào)試。