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          泛華測控2010年DAQ數(shù)據(jù)采集研討會北京站圓滿落下帷幕

          作者: 時間:2010-04-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            2010年3月25日,由北京中科技術(shù)有限公司(以下簡稱:)事業(yè)部主辦的2010全國巡回研討會北京北京站圓滿結(jié)束。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/107939.htm

            本次研討會中事業(yè)部的工程師們?yōu)榈綀黾钨e們?nèi)娣治隽嗽诂F(xiàn)今信息科技飛速發(fā)展的時代,所蘊藏的廣泛應(yīng)用前景,并帶來了新一代NI系列技術(shù)。同時,泛華測控工程師們還與到場嘉賓們分享了新一代數(shù)據(jù)采集技術(shù)在各行業(yè)應(yīng)用的成功案例與心得體會。其利用全新的數(shù)據(jù)采集平臺,結(jié)合各種傳感器,在現(xiàn)場搭建測試系統(tǒng),使整套系統(tǒng)低成本、高效率、易攜帶、集成快等優(yōu)勢在現(xiàn)場一一呈現(xiàn)。這些精彩的演講與演示贏得了到場嘉賓的好評。

            繼2009年成功舉辦全國巡回研討會后,2010年的數(shù)據(jù)采集巡回研討會也陸續(xù)拉開帷幕。在無錫站、北京站圓滿結(jié)束之后,還將在廈門、上海、蘇州、天津、杭州、常州、西安、合肥等十個城市舉辦。會議將以快速搭建高效精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)為中心,以數(shù)據(jù)采集革新技術(shù)為切入點,深度剖析NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品從入門到高級的具體行業(yè)應(yīng)用,分享行業(yè)成功經(jīng)驗!



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