科利登獲《測(cè)試與測(cè)量世界》Best in Test Award

科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測(cè)試與測(cè)量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測(cè)試獎(jiǎng)）獎(jiǎng)項(xiàng)。

Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測(cè)試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測(cè)試系統(tǒng)，它采用先進(jìn)科技，集成了更多更好的特性功能。Sapphire D-10的設(shè)計(jì)充分地考慮了不管是量產(chǎn)測(cè)試還是工程驗(yàn)證的不同測(cè)試要求。
《測(cè)試與測(cè)量世界》主編Rick Nelson說：“2006年度Best in Awards獎(jiǎng)項(xiàng)只頒給那些能給測(cè)試界帶來重大技術(shù)革新的新產(chǎn)品。我們的編輯之所以選擇科利登的Sapphire D-10做為該獎(jiǎng)項(xiàng)的獲獎(jiǎng)?wù)呤且驗(yàn)樵摽钕到y(tǒng)綜合了高速的數(shù)據(jù)交換網(wǎng)絡(luò)，基于FPGA的高度靈活性以及高密度的CMOS集成來提高系統(tǒng)測(cè)試各種消費(fèi)類芯片的產(chǎn)能和效率?！?
科利登系統(tǒng)公司總裁兼首席執(zhí)行官Dave Ranhoff（中文名:任永浩）說：“我們非常高興能榮獲該獎(jiǎng)項(xiàng)。做為一種革新的測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)理念，并結(jié)合科利登的先進(jìn)技術(shù)，Sapphire D-10迅速地獲得了全世界市場(chǎng)的接受和認(rèn)可。事實(shí)上，該系統(tǒng)首先在北美和亞洲的多個(gè)IDM和 OSAT工廠被采用正好證明了它在降低內(nèi)置MCU，顯示驅(qū)動(dòng)控制和無線基帶芯片測(cè)試成本時(shí)的重大成果。“