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          基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)測試系統(tǒng)

          作者: 時間:2010-05-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/108829.htm

            圖5 (軟件控制主界面)

            圖 6 (主程序框圖)

            結(jié)論

            通過公司先進(jìn)的技術(shù),能夠準(zhǔn)確而快速地對硬件進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)采集;同時驅(qū)動庫DAQmx與軟件開發(fā)平臺的無縫連接,利用構(gòu)建的FCT功能測試臺, 雖然結(jié)構(gòu)復(fù)雜,信號量較多,但是結(jié)構(gòu)調(diào)理,功能強(qiáng)大,易于修改,同時實現(xiàn)了資源共享,經(jīng)過大量的實驗,測試,我們非常成功的運用多臺這樣的FCT功能測試臺到了工廠的產(chǎn)線中,并且穩(wěn)定可靠。每次新產(chǎn)品釋放的時候,研發(fā)工程師只需要添加一個治具,根據(jù)資源分配表壓針,連線,修改軟件即可;大大減少了測試工程師的工作負(fù)荷。相信的產(chǎn)品在該行業(yè)會有更加深入的應(yīng)用。


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          關(guān)鍵詞: NI LabVIEW PXI

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