基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案
測試結(jié)果
按照測試結(jié)構(gòu)圖搭建好測試系統(tǒng)并配置軟件平臺,啟動(dòng)基站及PXB,同時(shí)在示波器和基站控制端觀察測試結(jié)果。圖5為示波器上觀察到的PXB實(shí)時(shí)響應(yīng)。通道1、2、3和4分別為上行信號幀頭、ACK/NACK指令序列、上行信號I/Q數(shù)據(jù)以及PXB的ACK/NACK響應(yīng)(高電平為ACK,低電平為NACK)。如圖所示,HARQ時(shí)序響應(yīng)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議完全相符。
基站端對上行射頻信號進(jìn)行分集接收并解調(diào),然后通過CRC校驗(yàn)對接收結(jié)果作出判斷,最后得到在特定衰落模型下的系統(tǒng)吞吐率。
根據(jù)3GPP TS 36.141規(guī)定,選取PUSCH,20MHz帶寬信號作為測試案例。在2根接收天線,Normal CP下,按照列出的前10個(gè)Case依次測試,結(jié)果如表3所示。
結(jié)語
結(jié)果表明,系統(tǒng)完全滿足標(biāo)準(zhǔn)測試要求。測試過程透明可見,結(jié)果顯示直觀可信。同時(shí),該測試系統(tǒng)在不添加任何硬件配置的情況下,僅僅通過軟件配置即可實(shí)現(xiàn)1×2,2×2,2×4及4×2的MIMO配置[8],從而實(shí)現(xiàn)基站Timing Adjustment以及PUCCH性能測試,是TD-LTE基站性能測試的理想平臺。
負(fù)離子發(fā)生器相關(guān)文章:負(fù)離子發(fā)生器原理
評論