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          2011第四屆國際測試儀器及應用大會將在上海舉行

          作者: 時間:2010-11-08 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            主辦:《電子產(chǎn)品世界》雜志社 慕尼黑(上海)有限公司

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/114290.htm

            時間:2011年3月15日

            地點:上海新國際博覽中心

            技術(shù)始終保持著廣泛而活躍的市場需求,特別是在被動元件測試和高性能電子測試上的發(fā)展?jié)摿薮?。擴大內(nèi)需的政府舉措更是給產(chǎn)業(yè)發(fā)展的巨大空間,其中很大一部分投入集中在與國防、航空航天和高性能測試領(lǐng)域,促使中國高端市場逆勢上揚,保持旺盛的活力。有鑒于此,《電子產(chǎn)品世界》將舉辦“第四屆國際及應用技術(shù)大會”,會上將探討如何選擇最新的測試測量儀器產(chǎn)品和測試測量解決方案,為廣大參會者帶來對測試測量領(lǐng)域的全新了解,并且對他們的實際工作有指導作用。論壇面向測試測量儀器的應用人員和測試系統(tǒng)開發(fā)者及應用者,包括工業(yè)、通信、航空航天、國防等行業(yè)的研發(fā)與應用工程師、教育工作者。

            《電子產(chǎn)品世界》雜志社與慕尼黑(上海)有限公司將于2011年3月15日在上海新國際博覽中心共同舉辦“EEPW第四屆國際及應用大會(ITMAF2011)” 期待您的參與!

            主要議題

            主題(上午):測試應用與數(shù)據(jù)采集

            主題(下午):半導體及生產(chǎn)設(shè)備測試測量解決方案

            半導體測試技術(shù)

            無源器件測試解決方案

            高可靠性測試測量解決方案

            航空航天測試應用與數(shù)據(jù)采集

            自動化測試方案平臺設(shè)計與解決方案及最新發(fā)展趨勢

            雷達、射頻微波測試測量解決方案

            苛刻環(huán)境下對測試測量儀器的特殊要求

            目標聽眾

            測試測量儀器的應用人員和測試系統(tǒng)開發(fā)者及應用者,包括集成電路半導體、工業(yè)、通信、航空航天、國防等行業(yè)的研發(fā)與應用工程師、教育工作者。



          關(guān)鍵詞: 測試測量 測試儀器

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