網(wǎng)絡(luò)分析的基本原理

　　一種獨(dú)特的儀器

　　網(wǎng)絡(luò)分析儀是一種功能強(qiáng)大的儀器，正確使用時(shí)，可以達(dá)到極高的精度。它的應(yīng)用也十分廣泛，在很多行業(yè)都不可或缺，尤其在測量無線射頻(RF)元件和設(shè)備的線性特性方面非常有用?，F(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀還可以應(yīng)用于更具體的場合，例如，信號完整性和材料的測量。隨著業(yè)界第一款PXI網(wǎng)絡(luò)分析儀—NI PXIe - 5630的推出，你完全可以擺脫傳統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)分析儀的高成本和大占地面積的束縛，輕松地將網(wǎng)絡(luò)分析儀應(yīng)用于設(shè)計(jì)驗(yàn)證和產(chǎn)線測試。

　　網(wǎng)絡(luò)分析儀的發(fā)展

　　你可以使用圖1所示的NI PXIe-5630矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量設(shè)備的幅度，相位和阻抗。由于網(wǎng)絡(luò)分析儀是一種封閉的激勵(lì)-響應(yīng)系統(tǒng)，你可以在測量RF特性時(shí)實(shí)現(xiàn)絕佳的精度。當(dāng)然，充分理解網(wǎng)絡(luò)分析儀的基本原理，對于你最大限度的受益于網(wǎng)絡(luò)分析儀非常重要。

　　在過去的十年中，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀由于其較低的成本和高效的制造技術(shù)，流行度超過了標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀。雖然網(wǎng)絡(luò)分析理論已經(jīng)存在了數(shù)十年，但是直到20世紀(jì)80年代早期第一臺現(xiàn)代獨(dú)立臺式分析儀才誕生。在此之前，網(wǎng)絡(luò)分析儀身形龐大復(fù)雜，由眾多儀器和外部器件組合而成，且功能受限。NI PXIe-5630的推出標(biāo)志著網(wǎng)絡(luò)分析儀發(fā)展的又一個(gè)里程碑，它將矢量網(wǎng)絡(luò)分析功能成功地賦予了靈活，軟件定義的PXI模塊化儀器平臺。

　　通常我們需要大量的測量實(shí)踐，才能實(shí)現(xiàn)精確的幅值和相位參數(shù)測量，避免重大錯(cuò)誤。由于射頻儀器測量的不確定性，小的錯(cuò)誤很可能會(huì)被忽略不計(jì)。而網(wǎng)絡(luò)分析儀作為一種精密的儀器能夠測量出極小的錯(cuò)誤。

　　網(wǎng)絡(luò)分析理論

　　網(wǎng)絡(luò)是一個(gè)被高頻率使用的術(shù)語，有很多種現(xiàn)代的定義。就網(wǎng)絡(luò)分析而言，網(wǎng)絡(luò)指一組內(nèi)部相互關(guān)聯(lián)的電子元器件。網(wǎng)絡(luò)分析儀的功能之一就是量化兩個(gè)射頻元件間的阻抗不匹配，最大限度地提高功率效率和信號的完整性。每當(dāng)射頻信號由一個(gè)元件進(jìn)入另一個(gè)時(shí)，總會(huì)有一部分信號被反射，而另一部分被傳輸，類似于圖2所示。

　　這就好比光源發(fā)出的光射向某種光學(xué)器件，例如透鏡。其中，透鏡就類似于一個(gè)電子網(wǎng)絡(luò)。根據(jù)透鏡的屬性，一部分光將反射回光源，而另一部分光被傳輸過去。根據(jù)能量守恒定律，被反射的信號和傳輸信號的能量總和等于原信號或入射信號的能量。在這個(gè)例子中，由于熱量產(chǎn)生的損耗通常是微不足道的，所以忽略不計(jì)。

　　我們可以定義參數(shù)反射系數(shù)(G)，它是一個(gè)包含幅值和相位的矢量，代表被反射的光占總(入射)光的比例。同樣，定義傳輸系數(shù)(T)代表傳輸?shù)墓庹既肷涔獾氖噶勘?。圖3示意了這兩個(gè)參數(shù)。

　　通過反射系數(shù)和傳輸系數(shù)，你可以更深入地了解被測器件(DUT)的性能?；仡櫣獾念惐?，如果DUT是一面鏡子，你會(huì)希望得到高反射系數(shù)。如果DUT是一個(gè)鏡頭，你會(huì)希望得到高傳輸系數(shù)。而太陽鏡可能同時(shí)具有反射和透射特性。