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          GE推出新型的x|act 檢測(cè)軟件

          —— 制造提供實(shí)時(shí)的圖像信息確保檢測(cè)精度
          作者: 時(shí)間:2010-12-23 來源:SEMI 收藏

            推出新型的x|act 檢測(cè)軟件,以配合phoenix microme|x and nanome|x 180伏高分辨率。該軟件可應(yīng)用于電子部件的手工檢測(cè),以及電子封裝中焊點(diǎn)的全自動(dòng)、基于CAD的X射線檢測(cè)。x|act 檢測(cè)軟件操作簡易、可靠性更高,為制造提供實(shí)時(shí)的圖像信息,確保了缺陷檢測(cè)的高精確度。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/115681.htm


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