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          聲學(xué)測(cè)試室與環(huán)境

          作者: 時(shí)間:2010-12-27 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            驗(yàn)證

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/115785.htm

            在這樣的性能級(jí)別下,任何聲音反射表面都會(huì)影響環(huán)境的性能。盡管許多反射都被有效抑止了,一部分仍然存在。因此,規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)要求完成驗(yàn)證測(cè)試,其中包括一系列偏離測(cè)試,找出聲音傳播在一定程度上沒(méi)有遵照上述等式的區(qū)域。

            測(cè)量表面

            使用球形麥克風(fēng)陣列要求在消聲室內(nèi)至少有20個(gè)麥克風(fēng)位置。球形表面的半徑要求不小于被測(cè)設(shè)備長(zhǎng)度尺寸特性的兩倍。在一些條件下,需要多達(dá)40個(gè)麥克風(fēng)位置。

            可以允許在麥克風(fēng)和楔子尖之間有四分之一波長(zhǎng),盡管在一些情況下(例如在寬帶噪聲源環(huán)境下),可能要用靠近楔子尖位置的麥克風(fēng)對(duì)房間進(jìn)行驗(yàn)證。

            消音室的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)

            優(yōu)點(diǎn):保存聲源的方向信息

            優(yōu)點(diǎn):保存聲音的時(shí)間歷史

            優(yōu)點(diǎn):高級(jí)別的測(cè)量精度

            缺點(diǎn):需要大型、相對(duì)昂貴、精確驗(yàn)證的房間,對(duì)于小型聲源需要20英尺的立方體(用于測(cè)試100 Hz),如果要測(cè)量更大的聲源,則測(cè)試頻率需降低。缺點(diǎn):需要大量麥克風(fēng)位置。如果實(shí)驗(yàn)室吞吐量是重要的,則需要考慮多通道的同步采集。

            行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):ANSI S12.35、ISO 3745。

            2. 半消音室

            消音室用于高精確級(jí)別的聲功率測(cè)量,例如ANSI S12.35和ISO 3745,以及工程等級(jí)的聲功率測(cè)量,例如ANSI S12.34和ISO 3744。許多測(cè)試代碼要求使用半消音室(例如用于計(jì)算機(jī)、ECMA 74、ISO 7779和ANSI S12.10)。這樣的測(cè)試室包含高傳輸損失的外殼,它內(nèi)部的天花板和墻壁帶有消音楔子裝飾。地面特意設(shè)計(jì)為高反射性,吸收系數(shù)為0.06或更小,通常用混凝土建造。

           


           

            其中LPi是第i個(gè)麥克風(fēng)的聲壓等級(jí),LW是聲音功率等級(jí),r是從聲源到接收點(diǎn)以米表示的距離,DIi是聲源方向第i個(gè)麥克風(fēng)的方向索引。當(dāng)聲源高度高于反射平面較大時(shí)(約為波長(zhǎng)的十分之一),這個(gè)關(guān)系不再成立:直接聲波和反射聲波的相位必須進(jìn)行調(diào)整。

            出于實(shí)際的原因,在被測(cè)設(shè)備較大或較重時(shí),通常傾向于使用半消聲室。

            良好設(shè)計(jì)并經(jīng)過(guò)良好構(gòu)建的外殼對(duì)噪聲的降低通常在數(shù)值上至少等于外殼組件的聲音傳播損失。因此第i個(gè)三分之一音高的內(nèi)部聲強(qiáng)等級(jí)為:

            如果使用過(guò)大或過(guò)多的穿透深度,或是如果穿透沒(méi)有為噪聲控制進(jìn)行合適的設(shè)置,測(cè)試室外殼隔離可能受到負(fù)面影響。迂回傳播也可能會(huì)將過(guò)多的聲音能量帶到測(cè)試室內(nèi)。

            被測(cè)設(shè)備每個(gè)麥克風(fēng)位置的聲壓等級(jí)在理想情況下,應(yīng)該超過(guò)背景聲壓等級(jí)10 dB或更多。



          關(guān)鍵詞: NI 聲學(xué)測(cè)試室

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