力科一系列新產(chǎn)品亮相2011年的DsignCon

　　力科公司在2011年的DesignCon首次亮相了其一系列的創(chuàng)新新產(chǎn)品，演示了在速度、性能和分析能力上的持續(xù)處于領(lǐng)先地位的示波器和信號完整性測試解決方案。力科產(chǎn)品專家們?nèi)虆⒓恿苏箷F(xiàn)場，出席了四場技術(shù)會議，參加了一場三小時的輔導(dǎo)培訓(xùn)。

　　展示的產(chǎn)品陣容具體包括：(1)WaveRunner 6 Zi 示波器，極致性能，4GHz帶寬、可旋轉(zhuǎn)顯示屏幕和業(yè)內(nèi)首個12bit ADC的示波器;(2)LabMaster，世界上的最高帶寬45GHz以及最高通道數(shù)20通道的 示波器;(3)WaveMaster 845 Zi-A,獲得了DesignVison獎的45GHz,120GS/s 示波器;(4)SPARQ-4012E,12端口、40GHz信號完整性網(wǎng)絡(luò)分析儀;(5)Kibra,業(yè)內(nèi)獨(dú)一無二的DDR3協(xié)議分析儀;(6)最完整的端到端PCI Express 3.0測試方案。力科同時推出的這一系列創(chuàng)新產(chǎn)品最具震撼力。與會者一致認(rèn)為，2011年DesignCon的最大亮點(diǎn)無疑是力科。

　　“力科公司的產(chǎn)品開發(fā)團(tuán)隊(duì)超越了許多關(guān)鍵的硬件和軟件的限制，挑戰(zhàn)當(dāng)今的高速設(shè)計(jì)技術(shù)，”力科公司董事長兼CEO Tom Reslewic說到，“在DesignCon上,我們非常自豪地展示我們基于先進(jìn)的半導(dǎo)體基礎(chǔ)技術(shù)的高端WaveMaster 示波器產(chǎn)品。”

　　WaveRunner 6Zi ,極致性能，中端示波器的終結(jié)者

　　新的旗艦---WaveRunner 6 Zi示波器，帶寬4GHz，每通道40GS/s采樣率以及新穎的工業(yè)設(shè)計(jì)、完整的串行數(shù)據(jù)和探頭解決方案。 在此之前，這些性能只有價格更高的示波器上才具有。DesignCon 的出席者可搶先看到最新的WaveRunner HRO示波器，帶寬 400MHz 和600MHz，具有前所未有的12bits垂直分辨率。該WaveRunner HROs 提供的高動態(tài)范圍和測量精度成為業(yè)內(nèi)首個高分辨率示波器測量工具。WaveRunner HROs 將在2011年5月開始批量發(fā)貨。

　　LabMaster, 突破極限，示波器中的頂級示波器

　　LabMaster最高帶寬45GHz，采樣率120GS/s，通道20個，分析存儲768Mpts/Ch。對于一些新的研發(fā)應(yīng)用，如100Gb/s+光傳輸,LabMaster成為目前唯一的解決方案。

　　WaveMaster 8 Zi-A,測試測量界最高獎項(xiàng)DesignVison 獎獲得者

　　WaveMaster 845 Zi-A示波器在2011年的DesignCon上獲得測試測量設(shè)備類DesignVison獎。帶寬45GHz的WaveMaster 845Zi-A是世界上最高帶寬的實(shí)時示波器。

　　SPARQ,S-Parameters Qucik,快速測量S參數(shù)

　　力科演示的SPARQ-4012E,一鍵操作測量12端口S參數(shù)的的信號完整性網(wǎng)絡(luò)分析儀。到目前為止，由于昂貴的價格和復(fù)雜性，12端口VNA還只是極少數(shù)信號完整性工程師才能用上。SPARQ消除了這些障礙，多端口的網(wǎng)絡(luò)分析SPARQ-4012E滿足了需要高帶寬S參數(shù)測量以分析高速無源器件特點(diǎn)的信號完整性工程師的需要。

　　除了SPARQ,力科同時還演示了信號完整性Studio軟件。該軟件具有的建模、仿真和分析功能和SPARQ 的S參數(shù)測量一起，可以同時測量S參數(shù)和通道、均衡器建模，眼圖測量，抖動分析，實(shí)時分析驗(yàn)證信道的阻抗不匹配、損耗和均衡器設(shè)計(jì)效果，為信號完整性工程師提供了前所未有的洞察力。

　　Kibra,行內(nèi)首個獨(dú)一無二的DDR3協(xié)議分析儀

　　著力于為DDR3存儲器系統(tǒng)的設(shè)計(jì)者降低測試成本，Kibra380消除了對昂貴的邏輯分析儀的需求，同時簡化了安裝和縮短了驗(yàn)證周期。

　　PCI Express 3.0端到端完整測試解決方案，滿足芯片設(shè)計(jì)開發(fā)每一個階段的測試需要

　　力科的完整性測試方案包括了包括物理層發(fā)送機(jī)和接收機(jī)測試，TDR/S參數(shù)測量和協(xié)議分析儀，以及可驗(yàn)證多通道之間互連性的12端口的S參數(shù)測量儀器SPARQ和業(yè)內(nèi)唯一一個具有協(xié)議識別功能的BERT-Phoenix,力科已經(jīng)具備了PCI Express 3.0測試和調(diào)試每個環(huán)節(jié)的需求。