Calibre PERC可編程電氣規(guī)則檢查工具提高富士通芯片可靠性

　　今天宣布富士通半導(dǎo)體有限公司現(xiàn)正使用Calibre® PERC產(chǎn)品進(jìn)行電氣規(guī)則檢查從而提高其集成電路設(shè)計(jì)在投產(chǎn)之前的準(zhǔn)確性和可靠性。該產(chǎn)品基于用戶制定的規(guī)則自動(dòng)進(jìn)行電氣檢測，通過檢測和識(shí)別芯片在工廠測試、運(yùn)輸和現(xiàn)場工作中可能出現(xiàn)的脆弱易損區(qū)域或者嚴(yán)重電氣故障來提高芯片的可靠性，以解決客戶實(shí)際需要。在富士通半導(dǎo)體進(jìn)行的相關(guān)檢測有靜電放電(ESD)保護(hù)電路檢查，跨電源域和跨多電源域保護(hù)檢測，電平轉(zhuǎn)換器檢測和優(yōu)化靜電放電(ESD)輸入輸出模塊擺放檢測。

　　富士通半導(dǎo)體有限公司IP技術(shù)開發(fā)和生產(chǎn)部技術(shù)開發(fā)組大規(guī)模系統(tǒng)集成技術(shù)和產(chǎn)品部總監(jiān)Masaru,Ito表示，“在以前，我們使用肉眼版圖檢查和自定義腳本結(jié)合的方法去發(fā)現(xiàn)那些和ESD保護(hù)電路以及多電源域保護(hù)電路相關(guān)的問題。當(dāng)然，這是很花費(fèi)時(shí)間的一項(xiàng)工作，并且不是十分可靠。我們發(fā)現(xiàn)Calibre PERC的獨(dú)特功能以及廣泛的可編程性使我們能夠定義和執(zhí)行所有我們需要做的檢測，并且在適應(yīng)將來需求方面賦予了我們很大的靈活度。起初，我們使用Calibre PERC作為我們設(shè)計(jì)技術(shù)的一部分，將來我們將擴(kuò)大使用范圍至所有集成電路開發(fā)以提升產(chǎn)品整體的可靠性和驗(yàn)證的高效性。”

　　“Calibre PERC為集成電路設(shè)計(jì)者提供了一個(gè)全新的工具，通過評估關(guān)鍵電路的幾何圖形布局和電氣性能，以應(yīng)對在產(chǎn)品可靠性上所面臨的挑戰(zhàn)，同時(shí)大量減少了人工檢測的時(shí)間和精力，” Mentor副總裁，晶圓設(shè)計(jì)部門總經(jīng)理Joseph Sawichi表示，“它的可編程性也給予了PERC能夠應(yīng)用于多電壓以及混合信號(hào)環(huán)境的獨(dú)特能力，并且伴隨著客戶的需要不斷成長。”