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          USB3.0:點燃2011消費電子新熱情

          作者: 時間:2011-03-27 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/118100.htm


            市場前景

            當年,2.0從推出到徹底占領市場僅用了4年的時間,可謂迅猛之極;現(xiàn)在3.0如果按照2009年開始進入市場算起,今年已經(jīng)是第三個年頭了,雖然諸多問題限制其擴張的速度,但在2011年的前景依然光明。

            經(jīng)歷了2009年初入市場的試水之后,3.0在2010年開始快速增長,據(jù)統(tǒng)計,2010年USB3.0的芯片出貨量接近2009年的3倍。市場調(diào)查機構In-Stat去年底發(fā)布報告稱,USB 3.0接口的普及因為缺乏芯片組的原生支持而沒能在2010年達到預期水平,但是前景依然是光明的,預計四年后就會達到現(xiàn)在的12倍。In-Stat提供的數(shù)據(jù)顯示,2010年全球USB 3.0接口設備出貨量接近1400萬,低于業(yè)界預計,但是到2014年的時候?qū)⒚驮龀^17億,基本完成普及。In-Stat首席分析師Brian O'Rourke評論說:“2009年底USB 3.0設備開始小規(guī)模出貨,2010年在筆記本、臺式機、轉接卡、內(nèi)置和外置硬盤、U盤等領域的出貨量明顯增長。總體來說,USB 3.0正在逐漸鋪開。大規(guī)模推廣仍然受制于PC芯片組的集成支持,否則PC OEM廠商就可以免費提供USB 3.0,從而刺激其在PC周邊、消費電子、移動設備中的普及。”在芯片出貨量方面,IDC則估計2011年USB3.0的芯片出貨量有機會一舉躍升至1億顆。此外,Digitimes Research也預估,2009年到2015年USB3.0出貨量的年復合成長率將達89%,2015年的出貨量則將挑戰(zhàn)23億顆,商機上千億元。

            作為由,以及惠普(HP)、NEC(現(xiàn)在的瑞薩)、NXP半導體以及德州儀器(Texas Instruments)等公司共同牽頭開發(fā)的標準,林士元坦言,相較于其他現(xiàn)有的高速串行接口技術,USB 3.0 的傳輸速率高達5Gbps,可滿足現(xiàn)今最為流行的大量數(shù)據(jù)傳輸或高清圖像處理等應用。USB3.0是基于目前全世界接口普及(占有)率最高的USB而發(fā)展出來的,所以USB3.0在使用者的接受度上以及未來市場的普及率上,將會延續(xù)原來USB的基礎上,而會更加地成長。

            測試難題

            由于傳輸速度提升10倍,傳輸鏈路增加1倍,因此,USB3.0的測試難度可想而知,傳統(tǒng)的USB2.0的測試方案完全不能滿足需要。而對于USB3.0的商用進程而言,測試其可靠性是所有USB3.0開發(fā)廠商共同面臨的難題。

            美國力科公司萬力勱介紹,在USB3.0的物理層測試中有以下難點需要全新的考量。

            難點1:完成全部TX測試項目需要多種測試碼型,一些非USB3.0芯片開發(fā)人員很難讓PUT發(fā)出特定的兼容性測試碼型。

            在USB3.0規(guī)范中定義了多種兼容性測試碼型(Compliance Pattern,簡稱CP),表2所示包括了CP0-CP8九種測試碼型。在TX測量中,需要用到CP0/CP1/CP7/CP8四種碼型:CP0用于眼圖與抖動、共模電壓測量;CP1用于SSC展頻測量、隨機抖動測量;CP7用于去加重測量;CP8用于差分電壓幅度測量。

            對于板級研發(fā)的工程師,如果沒有IC廠商提供的發(fā)包程序,很難讓PUT發(fā)出不同的測試碼型,而力科的USB3測試方案可以解決這個問題,如圖4所示,PUT連接了USB3夾具,TX輸出到示波器,RX與PeRT的信號輸出端相連。通常PUT在上電后會發(fā)送出CP0碼型,示波器通過USB電纜控制PERT,然后PeRT會發(fā)出1個Ping.LFPS命令給PUT,PUT接收到1個Ping.LFPS后,輸出的碼型切換為CP1,示波器捕獲到CP1碼型后,控制PERT又發(fā)送出1個Ping.LFPS,則PUT的輸出碼型切換為CP2,即PUT每收到1個Ping.LFPS就輸出下一個CP(CP8的下一個碼型為CP0),通過用示波器控制PERT,PERT控制PUT發(fā)出不同的CP,即可完成所有TX測試項目。

            難點2:在接收機測試時,PUT很難進入環(huán)回模式(Loopback模式)。

            在接收機測試中,需要通過Polling.LFPS→Rx.EQ→TS1→TS2→Loopback這一過程才能進入環(huán)回模式來測量接收機性能。在這個過程中接收機測試儀器(比如BERT)需要不斷的和PUT進行“握手”(handshake),在鏈路層與PUT通信,使其一步一步地進入Loopback模式,這對一些接收機測試儀器是非常困難的,比如X公司的接收機測試儀器是傳統(tǒng)BERT,不能與PUT進行“握手”,很難從Polling.LFPS逐步進入Loopback模式,而Y公司的接收機測試儀器為任意波形發(fā)生器,可以發(fā)送LFPS信令到PUT,但是無法從協(xié)議上識別PUT響應的信令,于是,很難逐步從Polling.LFPS進入到Loopback模式。如果未進入Loopback模式,通常使用人員會在信號源上編輯腳本,不斷調(diào)整LFPS、Rx.EQ、TS1、TS2之間的時間間隔,以期望調(diào)整后的信令能逐步使PUT進入環(huán)回模式,當測量新的USB3.0的IC時,可能又要修改信號源輸出腳本。我們稱這種只發(fā)不收的方法為Blind handshake,即接收機測試儀盲目地發(fā)出信令與PUT“握手”,但是無法識別PUT響應的信令。



          關鍵詞: 英特爾 USB 201103

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