吉時利推出專門針對高功率半導體測試優(yōu)化設計的數(shù)字源表

       美國俄亥俄州克里夫蘭，2011年4月15日訊 –吉時利儀器公司(NYSE: KEI)，作為全球先進電子測試儀器和系統(tǒng)的領先制造商，日前推出2600A系列源表中的最新產(chǎn)品2651A型高功率源表(System SourceMeter®)儀器。2651A型專門為高功率電子的特性分析而優(yōu)化設計，提供業(yè)內(nèi)可用的最寬電流量程。該量程對于各種各樣的研發(fā)、可靠性及生產(chǎn)測試應用至關重要，例如測試高亮度LED (HBLED)、功率半導體、DC-DC轉(zhuǎn)換器、電池，以及其他高功率材料、元件、模塊和組件。如需查看2651A型在線產(chǎn)品指南，請訪問： http://www.respond1.com/keithley/2651A/

       與2600A系列的每個產(chǎn)品成員一樣，2651A具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負載，組合了精密電壓和電流表。該源表在單個全尺寸機箱中組合了多種儀器的功能：半導體特性分析儀、精密電源、真電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負載，以及觸發(fā)控制器，并且通過吉時利的TSP-Link®技術可完全擴展為多通道嚴格同步系統(tǒng)。與競爭產(chǎn)品具備有限的功率、測量速度和/或分辨率不同，2651A型可源出或吸入高達2,000W脈沖功率(±40V，±50A)或200W直流功率(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)。該數(shù)字源表還能夠以高達1微秒每讀數(shù)的速率精密測量低達1pA和100 μV的信號。

兩種測量模式：數(shù)字化或積分

       2651A型可選擇數(shù)字化或積分測量模式，用于對瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為進行精密特性分析。兩個獨立的模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器定義每種模式——一個用于電流，另一個用于電壓，可同時用于精密電源讀回，不會影響測試效率。 

        數(shù)字化測量模式的18位A/D轉(zhuǎn)換器能夠以1微秒每點進行連續(xù)采樣，每秒可捕獲多達100萬個讀數(shù)，使其成為波形捕獲及高精度測量瞬態(tài)特征的最佳選擇。而競爭方案必須通過對多個讀數(shù)進行平均來產(chǎn)生一次測量結果，并且往往不能測量瞬態(tài)行為。
       積分測量模式基于22位A/D轉(zhuǎn)換器，優(yōu)化了儀器在需要最高可能測量準確度和分辨率應用中的工作性能。這樣可確保精密測量新一代器件中的極小電流和電壓。全部2600A系列儀器均具有積分測量工作模式。 

寬動態(tài)范圍適用于更寬范圍的應用

       通過TSP-Link并聯(lián)兩個2651A單元，可將系統(tǒng)的電流量程從50A提高至100A。這比最接近的競爭方案高兩倍半至五倍。兩個單元串聯(lián)時，電壓量程可從40V提高至80V。全部2600A系列儀器中的嵌入式測試腳本處理器(TSP®)使用戶能夠?qū)⒍鄠€單元作為單臺儀器進行尋址，使其一致動作，從而簡化測試。2651A型的內(nèi)置觸發(fā)控制器能夠以500納秒同步所有鏈接通道的工作。2651A型的這些功能提供了業(yè)內(nèi)可用的最寬動態(tài)范圍，使其非常適合于各種大電流、大功率測試應用，包括：
• 功率半導體、HBLED和光器件特性分析和測試
• GaN、SiC及其他復合材料和器件的特性分析
• 半導體結溫特性分析
• 可靠性試驗
• 高速、高精度數(shù)字化
• 電遷移研究

高速脈沖防止測試期間器件自熱
 
        為了將器件在測試期間的自熱（這也是大功率半導體和材料的普遍問題）降至最小，2651A型提供了高速脈沖功能，使用戶能夠以高準確度源出和測量脈沖。脈寬從100μs至DC、占空比從1%至100%可編程。而競爭方案通常受限于儀器占空比編程靈活性。

強大的測試腳本開發(fā)工具

       儀器中嵌入了吉時利基于LXI的I-V測試軟件TSP Express，所以無需軟件安裝和編程。從基本到高級測試，TSP Express均能以簡單三步提供器件數(shù)據(jù)：連接、配置和采集。它還簡化了儀器連接，允許更高的脈沖水平。能夠以圖形或表格格式查看結果，然后導出至.csv格式文件，可用于電子表格軟件。還提供另外兩款用于創(chuàng)建測試序列的強大軟件工具。Test Script Builder應用軟件支持TSP腳本的創(chuàng)建、修改、調(diào)試、運行和管理。一款基于IVI的LabVIEW®驅(qū)動簡化了將2651A集成至LabVIEW測試序列的過程。