Multitest的MT9510通過XTC實(shí)現(xiàn)擴(kuò)展溫度控制
面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計(jì)和制造測試分選機(jī)、測試座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前宣布欣然宣布其MT9510通過擴(kuò)展溫度校準(zhǔn)(XTC)功能實(shí)現(xiàn)了擴(kuò)展溫度控制。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/119340.htm今天,越來越多的 IC(如顯卡芯片)需要針對DUT(受測元件)的中程功率耗散控制。對于多數(shù)此類應(yīng)用來說,大量投資于既定的ATC(主動(dòng)熱控)系統(tǒng)是不恰當(dāng)?shù)?。一些半?dǎo)體制造商試圖通過開發(fā)自己的專利解決方案來應(yīng)對該問題。但這種做法將其資源耗費(fèi)在并非其主營業(yè)務(wù)的領(lǐng)域,實(shí)際上也沒有帶來真正“整體”解決方案的優(yōu)勢。
Multitest利用在溫度控制方面的豐富經(jīng)驗(yàn),針對高達(dá)50瓦特的中程功率耗散,開發(fā)出基于擴(kuò)展溫度校準(zhǔn)(XTC)的獨(dú)特解決方案。DUT內(nèi)部的芯片穩(wěn)定在設(shè)定溫度,同時(shí)亦避免了與測試針接觸之后的溫度變化。
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