<meter id="pryje"><nav id="pryje"><delect id="pryje"></delect></nav></meter>
          <label id="pryje"></label>

          新聞中心

          EEPW首頁 > 測試測量 > 新品快遞 > Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測試成本

          Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測試成本

          —— Multitest的Dura?Kelvin顯著降低總測試成本
          作者: 時間:2011-07-06 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計和制造測試分選機、和負載板的領(lǐng)先廠商公司,日前欣然宣布其Dura®Kelvin再次證明在超長的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠,Dura®Kelvin顯著降低了總體測試成本。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/121118.htm

            在項目期限內(nèi),首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura®Kelvin明顯超過了所有目標,使用壽命已超過4百萬次插撥,這是設(shè)定目標的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98.5%。真正令人贊嘆的是與清洗頻率相關(guān)的成就。

            Dura®Kelvin 僅需要在大約100個小時之后清洗。與原來的測試單元配置相比,這使與清洗相關(guān)的測試單元停機時間降低了90%。尤其對于低溫測試而言,這具有重要影響。



          關(guān)鍵詞: Multitest 測試座 Dura-Kelvin

          評論


          技術(shù)專區(qū)

          關(guān)閉
          看屁屁www成人影院,亚洲人妻成人图片,亚洲精品成人午夜在线,日韩在线 欧美成人 (function(){ var bp = document.createElement('script'); var curProtocol = window.location.protocol.split(':')[0]; if (curProtocol === 'https') { bp.src = 'https://zz.bdstatic.com/linksubmit/push.js'; } else { bp.src = 'http://push.zhanzhang.baidu.com/push.js'; } var s = document.getElementsByTagName("script")[0]; s.parentNode.insertBefore(bp, s); })();