Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測(cè)試成本
—— Multitest的Dura?Kelvin顯著降低總測(cè)試成本
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時(shí)間：2011-07-06
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠(chǎng)商Multitest公司，日前欣然宣布其Dura®Kelvin測(cè)試座再次證明在超長(zhǎng)的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國(guó)際性IDM大批量生產(chǎn)廠(chǎng)，Dura®Kelvin測(cè)試座顯著降低了總體測(cè)試成本。
本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/121118.htm
在項(xiàng)目期限內(nèi)，首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura®Kelvin明顯超過(guò)了所有目標(biāo)，使用壽命已超過(guò)4百萬(wàn)次插撥，這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98.5%。真正令人贊嘆的是與清洗頻率相關(guān)的成就。
Dura®Kelvin 僅需要在大約100個(gè)小時(shí)之后清洗。與原來(lái)的測(cè)試單元配置相比，這使與清洗相關(guān)的測(cè)試單元停機(jī)時(shí)間降低了90%。尤其對(duì)于低溫測(cè)試而言，這具有重要影響。
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