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          美國力科著名專家Eric博士即將親臨中國開展培訓(xùn)

          —— 與大師相約
          作者: 時(shí)間:2011-11-09 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            b). 完整性(SI)中的S 參數(shù)分析(S-parameters for SI)

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/125689.htm

            主要內(nèi)容:

            ●插入損耗和回波損耗的價(jià)值

            ●單端和差分S參數(shù)

            ●怎樣抽取特征阻抗和差分阻抗

            ●識別模式轉(zhuǎn)換問題和解決方案

            ●10條檢查S參數(shù)的要領(lǐng)

            ●S參數(shù)中你將看到的四個(gè)最重要的模式以及我們能夠從中看出什么

            通過對S參數(shù)內(nèi)在秘密深入的理解,當(dāng)您離開課堂后你將具備足夠的技能去解釋差分通道中埋藏在S參數(shù)中的各種行為特征并揭露出它們的重要特性。

            本課程中包含有獨(dú)特的實(shí)驗(yàn)操作。您將得到拷貝到一份QUCS軟件,QUCS軟件是一個(gè)強(qiáng)大的而且易用的S參數(shù)觀察和仿真軟件,它可以運(yùn)行在任意一個(gè)帶有Windows操作系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)上。Eric將給您展示如何使用它來從任何一個(gè)Touchstone文件中提取出有價(jià)值的信息以及如何仿真S參數(shù)。您可以保留該軟件和所有的Touchstone文件。實(shí)驗(yàn)操作是家庭作業(yè),您也可以攜帶您的手提電腦在課堂上就開始您的練習(xí)。


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