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          技術積累不足、思維觀念落后 把脈中國測試測量與儀器行業(yè)差距

          —— 《電子產(chǎn)品世界》測試技術專家座談會記要
          作者: 時間:2012-05-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            測試測量和儀器產(chǎn)業(yè),是必須的保障,也是研發(fā)前沿科技的利器,同時更是任何電子技術都避不開的一個重要環(huán)節(jié)。然而,無論從國防還是民用需求,我們接觸到的測試系統(tǒng)以及測試儀器,在高性能應用上無一例外都是進口品牌。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/132242.htm

            據(jù)統(tǒng)計,測試儀器產(chǎn)業(yè)所占電子工業(yè)的產(chǎn)值大約只有不足2%,而電子工業(yè)的產(chǎn)值不過占世界總產(chǎn)值的2%左右,但依靠測試儀器拉動的新技術帶來的附加價值卻可以占70%-75%的 全世界每年新增的價值。作為一種應用遍及基礎研究到生產(chǎn)線的基礎性產(chǎn)品和技術,電子測試儀器行業(yè)的強大,完全可以拉動一個國家創(chuàng)新帶動的新增價值。

            只是,在這樣一個看似微小卻影響巨大的行業(yè)里,中國一直充當著舞臺上的配角。把脈中國測試儀器行業(yè)的差距,不僅是媒體的責任,更是行業(yè)協(xié)會及相關機構必須面對的問題。為此,《電子產(chǎn)品世界》雜志社聯(lián)合北京電子儀器行業(yè)協(xié)會共同邀請來自航天系統(tǒng)、軍事院校和軍方的一線測試系統(tǒng)研發(fā)、應用及計量研究的專家學者,共同把脈中國測試儀器行業(yè)做大做強面對的各種問題。

            

           

            從歷屆國防電子展的參展廠商中,我們不難發(fā)現(xiàn)這樣一個現(xiàn)象,只有測試儀器廠商幾乎是外商的天下,為什么如此呢?因為外商的實際產(chǎn)品性能往往是本土企業(yè)難以企及的,僅憑這一點,在國防應用中,本土測試儀器產(chǎn)品很難有足夠競爭力去和外商的產(chǎn)品搶奪市場,英雄氣短,連技術接近都談不上,不得不讓我們大量的軍費乖乖的交給國外測試廠商,以保障我們的國防設計能夠獲得可靠的測試結果。

            作為一個高技術、資本密集、橫跨多個學科并且強調多年技術積累的行業(yè),我們在測試儀器方面與國外企業(yè)的差距是全方位的,不僅僅是技術、經(jīng)驗和資金不足,更重要的是在概念、標準和理念等方向的差距和在決策方面的不夠重視。

            對國產(chǎn)測試儀器而言,我們始終是跟著別人的腳步在學習,在追趕,這是幾位專家一致贊同的技術方面我們存在的最大問題。我們還沒有能力去定義儀器的架構,儀器的基礎概念,這就讓我們在面對各種新興技術涌現(xiàn)之時,根本無法開發(fā)出相應的測試儀器滿足其測試需求,即使這個技術可能是我們最先預見的,也不得不將大好的商機讓給國外企業(yè),反過來當我們需要進行測試之時,又不得不掏錢去購買。

            技術上的不足

            這些年,特別是在軍用測試方面,我們看到的是各種總線技術的盛行,然而不管是最早的GPIB,還是后來的VXI,現(xiàn)在流行的PXI或是不慍不火的LXI,甚至正在興起的AXIe總線,都是外國人定義研發(fā)的,這也就意味著,我們要應用這些總線技術,就逃不開他們定義的測試系統(tǒng)架構及測試方法,在此基礎上,即使總線標準是開放的,即使我們在硬件設計上具有和他們一樣的實力,但是在對總線技術的理解上,我們依然存在著不足,同樣的技術我們確實應用起來有差距,更何況,多數(shù)情況下我們不得不去購買他們的產(chǎn)品來滿足我們的測試系統(tǒng)要求。

            如果說在這些系統(tǒng)級測試儀器方面,因為開放的總線,我們的技術差距相對比較小,那么在臺式儀器方面,我們的差距幾乎很難去估量。對于基礎的測試儀器而言,其架構和概念并不難理解,但到了具體的功能定義和產(chǎn)品的功能實現(xiàn)方面,我們就存在著較大的差距。無法定義產(chǎn)品的功能并確保能實現(xiàn),這會讓我們的測試儀器開發(fā)和應用陷入的是一個尷尬的循環(huán)。我們無法跟蹤先進的電子技術發(fā)展的前沿科技,就沒有辦法了解其測試需求,就自然無法去為此開發(fā)適合最新技術的測試儀器,那么更談不上把握最新的測試市場脈搏和賺取最豐厚的那部分利潤,而你做不來先進新技術的測試,新技術出現(xiàn)的時候你就抓不住,人家也不可能交給你去滿足最初的測試需求,這樣就無法了解最新的技術動向,也就無法將新技術應用到你的測試儀器中。在這個循環(huán)中,我們始終無法找到一個突破口,而只能默默看著在一次次新技術經(jīng)歷這樣的循環(huán)后,距離最前沿技術和測試越來越遠。

            在國防和軍用測試中,制約本土測試儀器應用一個更重要的問題來自于核心半導體器件的缺失,我們看到的是,國內的測試儀器企業(yè),無論是老牌國有研究所還是新興的私有測試儀器企業(yè),自身具備的芯片研發(fā)能力相比國際巨頭有非常大的差距。可以說,測試用的芯片因為其特殊的一些要求,在市場上是很難找到相關合適的產(chǎn)品,特別是在信號分析和信號采集方面,模擬前端技術和信號采集技術的不足,直接體現(xiàn)在我們的測試儀器無法捕獲我們需要的一些特征信號,比如雷達和微波技術的絕大部分需求,商用芯片是無法滿足其測試需求的,這樣的結果是,我們的測試儀器廠商不是不知道怎么去滿足,而是沒有相關的半導體器件能夠讓我們做出滿足這些采樣率、帶寬需求的產(chǎn)品,而這兩點,恰恰是國防軍工應用中許多信號分析和信號處理的前提。

            觀念和思維的差距

            抹平技術上的差距,不是一蹴而就的事情。但比起技術上的差距,我們在測試儀器上存在的觀念和思維的差距看起來很容易解決,但實際執(zhí)行起來,比技術上的差距更難面對也更關鍵。測試儀器是個資本密集型企業(yè),企業(yè)的生產(chǎn)規(guī)模很重要,測試儀器又是一個市場比較小的行業(yè),因為儀器種類繁多,所以單個儀器種類的市場注定不可能很大。這給中國企業(yè)迎頭趕上增加了更大的難度,一方面,作為技術密集型和積累型行業(yè),面對這么多已經(jīng)領先很多的國外競爭對手,要把測試儀器做大做強,就要有足夠多的投入,并且短期內不要指望回報,這一點無疑僅靠一些私企是很難有這么強大的財力去做支撐的。因此,必須要有國家戰(zhàn)略高度的規(guī)劃和相關資源的大力支撐,才有機會去不斷縮小差距??梢哉f,如果測試儀器企業(yè)無法做到一個比較大的規(guī)模,那么就很難具備和國際巨頭一較長短的實力,而前期的成長需要巨額長期的資金投入。

            另一方面,因為市場不大,所以就更要強調企業(yè)研發(fā)的連續(xù)性和專注性,而對于國內的私企來說,他們面臨著生存的壓力,而對于很多國有科研院所而言,他們也面臨創(chuàng)收指標以及各種前沿課題的研究,無法專注于對一兩類的產(chǎn)品進行精耕細作,十年磨一劍錘煉精品。在我們的經(jīng)驗和對測試理解都欠缺的今天,若不靜下心來好好做出幾款精品,我們拿什么去和國外企業(yè)競爭?再者,因為市場細分復雜,因此,對測試儀器的架構和理念的研究的短期意義很難體現(xiàn),這就讓一些原本從戰(zhàn)略上國家支持其研究測試儀器架構和概念的研究機構不再愿意將精力集中于此,而是去追求短期利益更好的其他工作,從而造成只有各個儀器廠商去自己研發(fā)這些通用的基礎理念,造成很多研發(fā)資源的重復浪費。

            另一個欠缺的觀念上的差距是服務??梢哉f,作為一個毛利率超過50%的行業(yè),很大部分的企業(yè)銷售利潤是用以提供優(yōu)質的市場培育、售后服務和技術支持的。特別是在用戶的 測試體驗和測試習慣培養(yǎng)方面,國內企業(yè)在意識上的差距與國際企業(yè)相比差得實在太遠。某國內測試儀器生產(chǎn)企業(yè)表示,他們和國外競爭對手的產(chǎn)品性能類似,但用戶界面UI和操作的 通用性方面相差太遠,而在用戶中的宣傳更是幾乎為零。當用戶有相應的測試需求時,即使兩個產(chǎn)品的性價比等指標完全不同,用戶也很難去選擇他們的產(chǎn)品而放棄國外產(chǎn)品,原因只有一個,用戶會用。

            經(jīng)過幾個小時的討論,與會的專家紛紛闡述了各自的觀點,匯總起來大致包含如下幾點:

            一, 解決中國測試儀器落后的問題不僅僅是錢和人的問題,涉及觀念、思維和技術積累以及國家戰(zhàn)略的重視。二, 測試儀器水平的高低,直接影響了我國國防科技和相關電子工業(yè)的自主創(chuàng)新能力和戰(zhàn)略布局。

            三, 測試儀器的問題,同時也是國家在軟件和硬件方面不足的集中體現(xiàn),測試儀器的繁榮離不開相關的軟硬件實力的提升。

            四, 解決測試儀器的落后問題,需要的是國有科研機構和企業(yè),以及民營和私營企業(yè)共同努力,需要從標準到架構到概念的一系列測試體系的逐步建立。



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