NI 發(fā)布《2012年自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》

　　新聞要點(diǎn)
　　· 該趨勢(shì)展望報(bào)告探討了影響當(dāng)前和未來(lái)的電子行業(yè)的最新商業(yè)策略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O。
　　· 經(jīng)過(guò)多年的自動(dòng)化測(cè)試，NI從其商業(yè)關(guān)系、內(nèi)部專業(yè)知識(shí)和第三方研究中吸取經(jīng)驗(yàn)，并提出了行業(yè)內(nèi)最新、最為全面的見(jiàn)解。
　　· 報(bào)告中著重介紹了新興的移動(dòng)設(shè)備如何改變行業(yè)架構(gòu)，公司機(jī)構(gòu)如何通過(guò)建立測(cè)試組織來(lái)奠定各自的戰(zhàn)略優(yōu)勢(shì)。

　　新聞發(fā)布- 2012年5月- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布《2012年自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》,其中分享了公司對(duì)最新測(cè)試測(cè)量技術(shù)和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 該趨勢(shì)報(bào)告詳細(xì)介紹了影響眾多行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)，包括消費(fèi)電子產(chǎn)品、汽車(chē)、半導(dǎo)體，航空航天與國(guó)防、醫(yī)療設(shè)備以及通訊。 工程師和管理人員可從中了解并采用優(yōu)化測(cè)試組織的最新策略和最佳方式。

　　2012年趨勢(shì)展望報(bào)告由5個(gè)類(lèi)別組成： 商業(yè)戰(zhàn)略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O，并探討了以下主要趨勢(shì)：

• 測(cè)試組織的優(yōu)化: 各個(gè)組織將測(cè)試工程視為戰(zhàn)略資產(chǎn)，以在競(jìng)爭(zhēng)中獲得優(yōu)勢(shì)。
• 設(shè)計(jì)流程中的測(cè)量與仿真：將復(fù)雜模型與真實(shí)測(cè)量結(jié)合，提高產(chǎn)品質(zhì)量，縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間。
• PCI Express外部接口: 高速、低延遲PC內(nèi)部總線擁有新的系統(tǒng)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，并增強(qiáng)了外部接口功能。
• 移動(dòng)設(shè)備的迅速普及: “智能手機(jī)和平板電腦的普及”正改變著測(cè)試系統(tǒng)控制和監(jiān)測(cè)的方式。
• 便攜的測(cè)量算法：全新工具可實(shí)現(xiàn)一次開(kāi)發(fā)測(cè)量IP，即可部署至多個(gè)不同的處理單元。

　　《2012年自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》的內(nèi)容源于學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究、用戶論壇與調(diào)查、商業(yè)智能化和用戶顧問(wèn)委員會(huì)的反饋意見(jiàn)。 該報(bào)告以數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，詳細(xì)介紹了下一代技術(shù)趨勢(shì)，以此應(yīng)對(duì)測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域的商業(yè)和技術(shù)挑戰(zhàn)。

　　《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》由NI測(cè)試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會(huì)編寫(xiě)，NI創(chuàng)立該委員會(huì)，旨在促進(jìn)全球不同行業(yè)內(nèi)數(shù)千家客戶分享反饋各自的最佳測(cè)試測(cè)量方法。 NI測(cè)試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會(huì)以促進(jìn)測(cè)試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)人之間的交流為目標(biāo)，鼓勵(lì)他們提出商業(yè)和技術(shù)的獨(dú)到見(jiàn)解。 領(lǐng)導(dǎo)委員會(huì)的活動(dòng)內(nèi)容包括領(lǐng)導(dǎo)人會(huì)議、同行互通網(wǎng)絡(luò)和技術(shù)交流。