Multitest InCarrier 現(xiàn)提供一系列上下料配置
—— 為不同應用提供可靠高并行分選解決方案
面向世界各地集成設備制造商(IDM)和最終測試分包商,設計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商Multitest公司,日前宣布其InCarrier 設備可提供各種配置的上料和下料模式,例如從料管、震動盤和托盤上料,以及向料管、散料或金屬料條等下料的任意組合。除此之外,還可以提供劃片后的上料或向卷帶包裝下料的解決方案?! ?/p>本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/133349.htm
Multitest InCarrier作為獨特的測試分選解決方案,把條帶分選流程的重大優(yōu)勢和標準測試分選流程結合在一起。InCarrier概念是將單粒IC裝入托盤/載體然后在InStrip 進行測試,InStrip 為Multitest的高并行條帶測試分選機。最后,被測IC用InCarrier分選至最終的包裝和運送介質。Multitest InCarrier 為這些流程提供上料和下料的解決方案。
InCarrier 提供了一種高穩(wěn)定性,高并行測試流程的獨特的解決方案。適用于小至1.2 x 1.2 mm封裝尺寸的半導體和傳感器元器件。
InCarrier 流程已經(jīng)被歐洲,美國和亞洲的大批量的量產(chǎn)客戶所認可,并應用于汽車和消費電子。
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