直面從技術(shù)、認(rèn)知到觀念的差距

　　“把脈產(chǎn)業(yè)，正視差距，探究原因，尋求解決之道”，不僅是媒體的社會(huì)責(zé)任，更是行業(yè)協(xié)會(huì)及相關(guān)機(jī)構(gòu)必須面對(duì)的工作。為此，《電子產(chǎn)品世界》雜志社聯(lián)合北京電子儀器行業(yè)協(xié)會(huì)共同邀請(qǐng)來自航天系統(tǒng)、軍事院校等一線測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)、應(yīng)用及計(jì)量研究的專家學(xué)者，共同把脈中國測(cè)試儀器行業(yè)，探討將產(chǎn)業(yè)做大做強(qiáng)面對(duì)的各種問題。

　　產(chǎn)業(yè)現(xiàn)狀

　　據(jù)統(tǒng)計(jì)，測(cè)試儀器產(chǎn)業(yè)僅占世界總產(chǎn)值的萬分之三左右，但依靠測(cè)試儀器拉動(dòng)的新技術(shù)帶來的附加價(jià)值卻可以占70%-75%的全世界每年新增的價(jià)值。作為一種應(yīng)用遍及基礎(chǔ)研究到生產(chǎn)線的基礎(chǔ)性產(chǎn)品和技術(shù)，電子測(cè)試儀器行業(yè)的強(qiáng)大，完全可以拉動(dòng)一個(gè)國家創(chuàng)新帶動(dòng)的新增價(jià)值。

　　只是，在這樣一個(gè)看似微小卻影響巨大的行業(yè)里，中國一直在舞臺(tái)上充當(dāng)著采購的主角和產(chǎn)業(yè)的渺小配角。測(cè)試測(cè)量技術(shù)和儀器產(chǎn)業(yè)，是國防裝備必須的保障，也是研發(fā)前沿科技的利器，同時(shí)更是任何電子技術(shù)都避不開的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。然而，無論從國防還是民用需求，我們接觸到的測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試儀器，在高性能應(yīng)用上無一例外都是進(jìn)口品牌。

　　有鑒于此，《電子產(chǎn)品世界》特別邀請(qǐng)北京電子儀器行業(yè)協(xié)會(huì)秘書長馬嘉、航天514所計(jì)量總師劉民、裝甲兵工程學(xué)院劉玉軍教授、北京航天測(cè)控副總設(shè)計(jì)師王石記、航天514所無線電室主任彭明等一線測(cè)試專家一起把脈我國電子測(cè)試儀器行業(yè)存在的問題及解決之路。

　　存在的差距

　　作為一個(gè)高技術(shù)、資本密集、橫跨多個(gè)學(xué)科并且強(qiáng)調(diào)多年技術(shù)積累的行業(yè)，我們?cè)跍y(cè)試儀器方面與國外企業(yè)的差距是全方位的，相比于在技術(shù)、經(jīng)驗(yàn)和資金方面的不足，概念、標(biāo)準(zhǔn)和理念等方向的差距和決策方面的不夠重視更為關(guān)鍵。國產(chǎn)測(cè)試儀器始終跟著別人的腳步在學(xué)習(xí)和追趕，這是幾位專家一致贊同的技術(shù)方面存在的最大問題。我們還沒有能力去定義儀器的架構(gòu)、儀器的基礎(chǔ)概念，這就讓我們?cè)诿鎸?duì)各種新興技術(shù)涌現(xiàn)之時(shí)，根本無法開發(fā)出相應(yīng)的測(cè)試儀器滿足其測(cè)試需求，即使這個(gè)技術(shù)可能是我們最先預(yù)見的，也不得不將大好的商機(jī)讓給國外企業(yè);反過來當(dāng)我們需要進(jìn)行測(cè)試之時(shí)，又不得不掏錢去購買。

　　這些年各種總線技術(shù)在測(cè)試領(lǐng)域盛行，然而不管是最早的GPIB，還是后來的VXI，現(xiàn)在流行的PXI或是不慍不火的LXI，甚至正在興起的AXIe總線，都是外國人定義研發(fā)的，這也就意味著，我們要應(yīng)用這些總線技術(shù)，就逃不開他們定義的測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)及測(cè)試方法。在臺(tái)式儀器方面，差距幾乎讓我們很難去估量。對(duì)于基礎(chǔ)的測(cè)試儀器而言，其架構(gòu)和概念并不難理解，但到了具體的功能定義和產(chǎn)品的功能實(shí)現(xiàn)方面，我們就存在著較大的差距。制約本土測(cè)試儀器應(yīng)用一個(gè)更重要的問題來自于核心半導(dǎo)體器件的缺失，國內(nèi)的測(cè)試儀器企業(yè)，無論是老牌國有研究所還是新興的私人測(cè)試儀器企業(yè)，自身具備的芯片研發(fā)能力相比國際巨頭有非常大的差距。在信號(hào)分析和信號(hào)采集方面，模擬前端技術(shù)和信號(hào)采集技術(shù)的不足，直接體現(xiàn)在同產(chǎn)測(cè)試儀器無法捕獲我們需要的一些特征信號(hào)。比如雷達(dá)和微波技術(shù)的絕大部分需求，商用芯片是無法滿足其測(cè)試需求的，這樣的結(jié)果是，測(cè)試儀器廠商不是不知道怎么去滿足，而是沒有相關(guān)的半導(dǎo)體器件能夠讓我們做出滿足這些采樣率、帶寬需求的產(chǎn)品。

　　抹平技術(shù)上的差距，不是一蹴而就的事情。但比起技術(shù)上的差距，我們?cè)跍y(cè)試儀器上存在的觀念和思維的差距看起來很容易解決，但實(shí)際執(zhí)行起來，比技術(shù)上的差距面臨更大的挑戰(zhàn)。觀念上明顯的差距是服務(wù)，特別是在用戶的測(cè)試體驗(yàn)和測(cè)試習(xí)慣培養(yǎng)方面，國內(nèi)企業(yè)在意識(shí)上的差距與國際企業(yè)相比差得實(shí)在太遠(yuǎn)。即使國內(nèi)產(chǎn)品和國外競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的產(chǎn)品性能類似，但用戶界面UI和操作易用性上差距太多，另一個(gè)差距是市場(chǎng)推廣和宣傳投入的差距，直接導(dǎo)致國內(nèi)消費(fèi)者對(duì)國內(nèi)儀器品牌和操作的陌生感，進(jìn)而影響銷售。

　　經(jīng)過幾個(gè)小時(shí)的討論，與會(huì)的專家紛紛闡述了各自的觀點(diǎn)，匯總起來大致包含如下幾點(diǎn)。

　　一，解決中國測(cè)試儀器落后的問題不僅僅是錢和人的問題，涉及觀念、思維和技術(shù)積累以及國家戰(zhàn)略的重視。

　　二，測(cè)試儀器水平的高低，直接影響了我國國防科技和相關(guān)電子工業(yè)的自主創(chuàng)新能力和戰(zhàn)略布局。

　　三，測(cè)試儀器的問題，同時(shí)也是國家在軟件和硬件方面不足的集中體現(xiàn)，測(cè)試儀器的繁榮離不開相關(guān)的軟硬件實(shí)力的提升。

　　四，解決測(cè)試儀器的落后問題，需要的是國有科研機(jī)構(gòu)和企業(yè)，以及民營和私營企業(yè)共同努力，需要從標(biāo)準(zhǔn)到架構(gòu)到概念的一系列測(cè)試體系的逐步建立。