大容量存儲(chǔ)器集成電路的測試

摘要：介紹了有關(guān)大容量存儲(chǔ)器集成電路測試系統(tǒng)的軟件原理和硬件構(gòu)成，對大容量存儲(chǔ)器集成電路的測試方法作了初步探討，希望對實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室精確測試和生產(chǎn)中大批量芯片中測和成品測試有所幫助。

關(guān)鍵詞：測試系統(tǒng)： 存儲(chǔ)器集成電路： 塊； 頁

中圖分類號：TN407 文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A 文章編號：1004-4507(2005)05-0049-04

目前國內(nèi)電腦內(nèi)存條及配套產(chǎn)品、語言復(fù)讀機(jī)、DVD機(jī)以及數(shù)碼相機(jī)、數(shù)碼錄音、MP3等方面，對存儲(chǔ)器電路需求量超過8000萬只，隨著各類電子產(chǎn)品的數(shù)碼化和大容量化，對存儲(chǔ)器電路的需求還將大幅增長，對存儲(chǔ)器集成電路測試系統(tǒng)的需求也就越來越迫切。 大容量存儲(chǔ)器集成電路的測試系統(tǒng)是科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金項(xiàng)目，是根據(jù)大容量存儲(chǔ)器集成電路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的發(fā)展趨勢而研究開發(fā)的測試系統(tǒng)。方案的主要內(nèi)容為測試方法和測試程序研究開發(fā)，其次是測試板、適配器及生產(chǎn)性測試設(shè)備的研制和設(shè)備結(jié)構(gòu)制作和調(diào)試等。特點(diǎn)是基于大容量存儲(chǔ)器集成電路的結(jié)構(gòu)，采用全新的測試技術(shù)理論和較通用的測試設(shè)備，實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室精確測試和生產(chǎn)中大批量芯片中測及成品測試。目前對高兆位存儲(chǔ)器電路能大批量測試的設(shè)備非常昂貴，低價(jià)的專用存儲(chǔ)器電路測試儀又不能滿足測試的可靠性和通用性要求，因此該項(xiàng)目將大大提高國內(nèi)存儲(chǔ)器電路的生產(chǎn)能力，降低產(chǎn)品成本，提高存儲(chǔ)器電路的可利用率，有顯著的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。

1 測試系統(tǒng)的基本原理

根據(jù)大容量存儲(chǔ)器電路的技術(shù)特點(diǎn)，不論EEPROM、DRAM、SDRAM、FLASRAM等，都有快速塊(BANK)、頁(PAGE)、單個(gè)單元和連續(xù)多個(gè)單元這4種不同的讀和寫方式。本系統(tǒng)充分利用不同的讀和寫方式進(jìn)行測試，首先以頁面方式測試存儲(chǔ)單元讀和寫的正確性，再以塊方式測試連續(xù)寫入固定數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，然后連續(xù)多個(gè)單元方式寫入變化數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性，最后測試在單個(gè)單元寫連續(xù)循環(huán)變化下數(shù)據(jù)的可靠性，按這樣順序運(yùn)行4種不同的測試模塊，能非常準(zhǔn)確地對存儲(chǔ)器電路的各種狀態(tài)進(jìn)行分析測試，對大容量存儲(chǔ)器電路SDRAM和flash RAM的測試項(xiàng)目以及存儲(chǔ)單元的可測試度為100％，系統(tǒng)定時(shí)精度