大容量存儲器集成電路的測試

摘要：介紹了有關(guān)大容量存儲器集成電路測試系統(tǒng)的軟件原理和硬件構(gòu)成，對大容量存儲器集成電路的測試方法作了初步探討，希望對實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室精確測試和生產(chǎn)中大批量芯片中測和成品測試有所幫助。

關(guān)鍵詞：測試系統(tǒng)： 存儲器集成電路： 塊； 頁

中圖分類號：TN407 文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A 文章編號：1004-4507(2005)05-0049-04

目前國內(nèi)電腦內(nèi)存條及配套產(chǎn)品、語言復(fù)讀機(jī)、DVD機(jī)以及數(shù)碼相機(jī)、數(shù)碼錄音、MP3等方面，對存儲器電路需求量超過8000萬只，隨著各類電子產(chǎn)品的數(shù)碼化和大容量化，對存儲器電路的需求還將大幅增長，對存儲器集成電路測試系統(tǒng)的需求也就越來越迫切。 大容量存儲器集成電路的測試系統(tǒng)是科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金項(xiàng)目，是根據(jù)大容量存儲器集成電路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的發(fā)展趨勢而研究開發(fā)的測試系統(tǒng)。方案的主要內(nèi)容為測試方法和測試程序研究開發(fā)，其次是測試板、適配器及生產(chǎn)性測試設(shè)備的研制和設(shè)備結(jié)構(gòu)制作和調(diào)試等。特點(diǎn)是基于大容量存儲器集成電路的結(jié)構(gòu)，采用全新的測試技術(shù)理論和較通用的測試設(shè)備，實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室精確測試和生產(chǎn)中大批量芯片中測及成品測試。目前對高兆位存儲器電路能大批量測試的設(shè)備非常昂貴，低價的專用存儲器電路測試儀又不能滿足測試的可靠性和通用性要求，因此該項(xiàng)目將大大提高國內(nèi)存儲器電路的生產(chǎn)能力，降低產(chǎn)品成本，提高存儲器電路的可利用率，有顯著的經(jīng)濟(jì)效益和社會效益。

1 測試系統(tǒng)的基本原理

根據(jù)大容量存儲器電路的技術(shù)特點(diǎn)，不論EEPROM、DRAM、SDRAM、FLASRAM等，都有快速塊(BANK)、頁(PAGE)、單個單元和連續(xù)多個單元這4種不同的讀和寫方式。本系統(tǒng)充分利用不同的讀和寫方式進(jìn)行測試，首先以頁面方式測試存儲單元讀和寫的正確性，再以塊方式測試連續(xù)寫入固定數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，然后連續(xù)多個單元方式寫入變化數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性，最后測試在單個單元寫連續(xù)循環(huán)變化下數(shù)據(jù)的可靠性，按這樣順序運(yùn)行4種不同的測試模塊，能非常準(zhǔn)確地對存儲器電路的各種狀態(tài)進(jìn)行分析測試，對大容量存儲器電路SDRAM和flash RAM的測試項(xiàng)目以及存儲單元的可測試度為100％，系統(tǒng)定時精度