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          NI PXI開關(guān)為規(guī)模化測試延長射頻測試系統(tǒng)壽命并提高速度

          作者: 時間:2012-08-13 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 )近日發(fā)布新的 固態(tài)射頻多路復(fù)用器,為工程師提供了一個長期高效的解決方案來對高達(dá)6.6GHz的射頻信號的路由進(jìn)行優(yōu)化。相較傳統(tǒng)的機(jī)電開關(guān)解決方案, 的固態(tài)構(gòu)架能夠?qū)崿F(xiàn)更加快速的開關(guān)以及多次重復(fù)測量?! ?/p>本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/135671.htm

           

            感言:

            “新的NI 固態(tài)開關(guān)是基于行業(yè)領(lǐng)先的NI PXI平臺的成功經(jīng)驗構(gòu)建而成,其固態(tài)架構(gòu)為射頻應(yīng)用提供了高速度和可靠性。”美國國家儀器有限公司測試市場總監(jiān)Charles Schroeder如是說道,“使用這個開關(guān),自動化測試領(lǐng)域的工程師可以整合并同步許多PXI儀器,包括射頻發(fā)生器和分析儀,從而最大化測試系統(tǒng)的投入產(chǎn)出比并能夠進(jìn)一步提高精確度和吞吐量。”

            產(chǎn)品特性

            針對于高密度射頻開關(guān)的6.6GHz雙4x1多路復(fù)用器,適用于多站測試

            采用固態(tài)架構(gòu),延長了開關(guān)的使用壽命

            所有通道都使用了50 Ohm終端,提高射頻性能

            整合PXI觸發(fā)以進(jìn)行快速可重復(fù)的測量



          關(guān)鍵詞: NI PXI/PXIe-2543

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