B2900A在半導(dǎo)體激光器測試中的應(yīng)用
半導(dǎo)體激光器是光纖通訊,激光顯示,氣體探測等領(lǐng)域中的核心部件,受到全世界科技人員的廣泛關(guān)注。在半導(dǎo)體激光器的生產(chǎn)、研發(fā)過程中,對激光器的光電特性的測量尤為重要,是控制激光器制備工藝的穩(wěn)定性,激光器性能可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/135804.htm半導(dǎo)體激光器是半導(dǎo)體光電轉(zhuǎn)換器件。如圖1所示,半導(dǎo)體激光器由多層材料構(gòu)成。自下而上包括背電極,襯底,下光限制層,下波導(dǎo)層,有源層,上波導(dǎo)層,上限制層,上電極。不同層由不同的外延材料組成。如此層狀結(jié)構(gòu)是為了達(dá)到1)載流子(電子,空穴)的注入復(fù)合發(fā)光,2)光子橫向限制,形成光波導(dǎo)的目的。外延完成的層狀結(jié)構(gòu)要經(jīng)過刻蝕工藝,形成脊波導(dǎo),在脊波導(dǎo)上制備接觸電極。如此脊波導(dǎo)的目的是1)限制電流側(cè)向擴散,2)形成光子的側(cè)向波導(dǎo)。制備完的圓片經(jīng)過解理,鍍膜,燒焊,壓焊引線等工藝得到待測量的激光器,如同2所示。當(dāng)向激光器電極注入電流時,激光器PN結(jié)兩側(cè)的電子和空穴大量的涌入有源區(qū),在有源區(qū)電子空穴對復(fù)合,產(chǎn)生大量的光子,光子在波導(dǎo)的作用下沿軸方向傳播,在激光器端面,反射光形成激射條件,透射光則為激光器輸出的激光。激光器工作特性主要體現(xiàn)在1)PN結(jié)特性,串聯(lián)電阻,2)激光器的激射閾值,激光器斜率效率。這些特性決定了激光器的出光功率 ,功率轉(zhuǎn)換效率 ,工作壽命等性質(zhì)。生產(chǎn)和科研過程中經(jīng)常采用PIV測量方法獲得這些重要參數(shù)。
半導(dǎo)體激光器PIV特性即對激光器注入電流I時,激光器的出光功率P和激光器兩極電壓V的響應(yīng)特性。與普通的PN結(jié)二極管等兩端器件不同,半導(dǎo)體激光器PIV測試不僅要測量激光器的電壓-電流(V-I)特性,重要的是同時完成激光器的功率-電流(P-I)特性的測試。因此,半導(dǎo)體激光器PIV測試系統(tǒng)包括精密電流源,電壓表,功率計和負(fù)責(zé)控制、儀器間通訊、數(shù)據(jù)采集和處理的軟件部分。傳統(tǒng)的PIV測試系統(tǒng)由分立的電流源(集成有電壓表),電流計和控制軟件組成。電流源用于提供激光器注入電流和測量電壓,電流計連接積分球用于測量激光器功率,電流源和電流計通過GPIB端口與軟件聯(lián)接,完成測量觸發(fā),數(shù)據(jù)傳輸?shù)热蝿?wù)。
復(fù)雜的PIV測試系統(tǒng)存在很多問題,包括1)測量速度不高,單位時間內(nèi)測量的點數(shù)少,增加了測量耗時;2)系統(tǒng)的穩(wěn)定性差,由GPIB端口連接的儀器間會出現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸阻塞的問題,系統(tǒng)容易癱瘓;3)系統(tǒng)的可控性差,測量速度、掃描點數(shù),掃描方式不可根據(jù)測量要求進行調(diào)整。在大量的半導(dǎo)體激光器光電測試過程中,傳統(tǒng)的PIV測試系統(tǒng)出現(xiàn)了效率低、可靠性、可控性差的問題。
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