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          了解LabVIEW FPGA和軟件設(shè)計(jì)射頻儀器的優(yōu)勢(shì)所在

          作者: 時(shí)間:2012-09-17 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            軟件設(shè)計(jì)儀器與傳統(tǒng)方法的對(duì)比

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/136861.htm

            在射頻測(cè)量系統(tǒng)中運(yùn)用基于的硬件可以帶來從低延時(shí)待測(cè)設(shè)備的控制到減少CPU負(fù)載等諸多好處。在下文中將介紹更多不同應(yīng)用的詳細(xì)情況。

            使用交互式待測(cè)設(shè)備控制方法,提高測(cè)試系統(tǒng)的整合度

            在許多射頻測(cè)試系統(tǒng)中,需要使用數(shù)字信號(hào)或自定義協(xié)議來控制需要被控制的設(shè)備和芯片。傳統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)可以通過待測(cè)設(shè)備的模式進(jìn)行排序,在每一個(gè)不同的階段進(jìn)行所需的測(cè)量工作。有些智能型的自動(dòng)化測(cè)試儀器(ATE)系統(tǒng)可以根據(jù)接收到的測(cè)量值在待測(cè)設(shè)備設(shè)置之間進(jìn)行排序。

            對(duì)于任意兩種情況,包含了的軟件設(shè)計(jì)儀器都可以降低成本并減少測(cè)試時(shí)間。將測(cè)量處理和數(shù)字控制整合至一個(gè)儀器中可以降低系統(tǒng)對(duì)其他數(shù)字I/O的需求,并且也無需在儀器間對(duì)觸發(fā)進(jìn)行配置。對(duì)于有些必須根據(jù)接受到的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行控制的待測(cè)設(shè)備,軟件設(shè)計(jì)儀器可以在硬件中關(guān)閉循環(huán),以減少因在軟件中進(jìn)行決策所帶來的高延時(shí)。

            使用硬件測(cè)量減少測(cè)試時(shí)間,提高測(cè)試可靠性

            雖然當(dāng)今基于軟件的測(cè)試系統(tǒng)只能對(duì)有限數(shù)量的測(cè)量進(jìn)行并行處理,但只要通過邏輯,軟件設(shè)計(jì)儀器可以毫無限制地實(shí)現(xiàn)并行處理。通過硬件并行機(jī)制可以處理大量的測(cè)量任務(wù)或數(shù)據(jù)通道,而無需對(duì)指定的測(cè)量任務(wù)進(jìn)行挑選。諸如快速傅里葉變換、濾波、調(diào)制和解調(diào)等計(jì)算,可以在硬件中進(jìn)行,由此可以減少CPU的數(shù)據(jù)傳送量和處理量。諸如實(shí)時(shí)頻譜屏蔽之類的功能,使用軟件設(shè)計(jì)儀器,可以比使用傳統(tǒng)封裝儀器獲得更高的速率。

            此外,在硬件中執(zhí)行測(cè)量任務(wù)的低延時(shí)意味著在同樣的時(shí)間內(nèi),標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)可能只能要求完成一個(gè)測(cè)量任務(wù),但其卻可以同時(shí)進(jìn)行數(shù)十個(gè)甚至上百個(gè)實(shí)時(shí)測(cè)量任務(wù),從而提高測(cè)試結(jié)果的質(zhì)量并增加射頻測(cè)試的可靠程度。而且,由于測(cè)量任務(wù)可以在硬件中連續(xù)執(zhí)行,并周期性地從主機(jī)測(cè)試程序中進(jìn)行采樣,用戶可以完全不用擔(dān)心遺漏任何重要的數(shù)據(jù)。  


          圖2. 使用軟件設(shè)計(jì)儀器,用戶可以連續(xù)采集數(shù)據(jù)并執(zhí)行測(cè)試(定期采樣測(cè)試結(jié)果),而無需停止采集過程來傳輸信息。

            通過閉環(huán)反饋快速達(dá)到最理想的測(cè)試條件

            某些射頻測(cè)試要求待測(cè)設(shè)備設(shè)置或環(huán)境和生產(chǎn)處理的數(shù)量需要根據(jù)所接收到的測(cè)量任務(wù)進(jìn)行改變;這就需要一個(gè)閉環(huán)系統(tǒng),但其常常由于軟件棧的延時(shí)而受到限制。在許多情況下,可以在硬件中直接閉環(huán),從而使得CPU無需再計(jì)算下一個(gè)定位點(diǎn)。這樣可以將閉環(huán)測(cè)試時(shí)間從數(shù)十秒減少至零點(diǎn)幾秒。

            通過用戶自定義觸發(fā)來處理特定的數(shù)據(jù)

            使用儀器型硬件已解決了觸發(fā)行為的延時(shí)問題。然而,通過使用軟件設(shè)計(jì)的儀器,用戶可以將自定義觸發(fā)功能集成到設(shè)備中,從而可以在特定情況下快速執(zhí)行命令。靈活的基于硬件的觸發(fā)意味著用戶可以在捕捉重要的測(cè)量數(shù)據(jù)或激活其他的儀器設(shè)備時(shí),將自定義頻譜屏蔽或其他復(fù)雜的條件設(shè)置為標(biāo)準(zhǔn)。并且,通過選擇硬件中特定的數(shù)據(jù)可以使得用戶解放CPU以用于其他重要的任務(wù)。

            在設(shè)計(jì)過程中合理運(yùn)用軟件投資

            雖然本文內(nèi)容主要有關(guān)射頻測(cè)試,但工程師也越來越多地在設(shè)計(jì)和測(cè)試階段反復(fù)地使用IP,縮短產(chǎn)品上市周期并大幅減少測(cè)試總體費(fèi)用。通過 FPGA,可以對(duì)數(shù)字信號(hào)處理算法進(jìn)行定義,并可將其視為設(shè)備的一部分或元件確認(rèn)而重復(fù)運(yùn)用,從而無需再從頭開始編寫測(cè)試代碼。這能夠加速測(cè)試的開發(fā)(在設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)的初期即可開始進(jìn)行測(cè)試),同時(shí)也使得測(cè)試覆蓋的范圍更加完整?! ?/p>


          圖3. IP可以在設(shè)計(jì)和測(cè)試階段反復(fù)使用,從而減少測(cè)試的開發(fā)時(shí)間并提供更加完整的測(cè)試范圍

            永不過時(shí)的軟件設(shè)計(jì)儀器

            在未來幾年中,廠商定義的儀器和功能固定的即用儀器將毫無疑問地繼續(xù)存在。然而,越來越多復(fù)雜的射頻設(shè)備和產(chǎn)品上市時(shí)間的壓力已推動(dòng)了基于軟件的儀器系統(tǒng)的不斷增加,這些趨勢(shì)的延續(xù)意味著在不久的將來,軟件設(shè)計(jì)儀器將逐漸在射頻測(cè)試,乃至在所有的測(cè)試儀器中,扮演一個(gè)不可或缺的重要角色。

            軟件設(shè)計(jì)儀器提供了高度的靈活、優(yōu)質(zhì)的性能,以及采用即時(shí)可用硬件而具備的永不過時(shí)性。當(dāng)系統(tǒng)要求改變時(shí),軟件設(shè)計(jì)儀器的軟件投資將通過不同的模塊化I/O得以保留,而現(xiàn)有的I/O也可以根據(jù)實(shí)際應(yīng)用而隨時(shí)改變。


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          關(guān)鍵詞: NI LabVIEW FPGA

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