了解LabVIEW FPGA和軟件設(shè)計(jì)射頻儀器的優(yōu)勢所在

　　概覽

　　無線設(shè)備的數(shù)量、通信標(biāo)準(zhǔn)的多樣性，以及調(diào)制方案的復(fù)雜度，每一年都在不斷增加。而隨著每一代新技術(shù)的誕生，由于使用傳統(tǒng)技術(shù)測試無線設(shè)備，需要大量更復(fù)雜的測試設(shè)備，其成本也在不斷提高。

　　使用虛擬(軟件)儀器與模塊化I/O相結(jié)合是一種最小化硬件成本并減少測試時(shí)間的方法。軟件設(shè)計(jì)儀器的新方法使得射頻測試工程師無需憑借自定義或特殊標(biāo)準(zhǔn)的儀器，就能以多個(gè)數(shù)量級(jí)的幅度減少測試時(shí)間。

　　閱讀此文可以幫助您了解如何使用NI LabVIEW FPGA來設(shè)計(jì)和自定義您的射頻儀器，以及通過軟件設(shè)計(jì)的儀器能為您的測試系統(tǒng)所帶來的好處。

　　軟件設(shè)計(jì)儀器簡介

　　多年來，測試工程師一直在運(yùn)用諸如LabVIEW的軟件包來實(shí)現(xiàn)自定義射頻測量系統(tǒng)，并與傳統(tǒng)封裝儀器相比盡可能地減少成本。使用軟件設(shè)計(jì)的方法不僅提供了強(qiáng)大的靈活性，更能使測試工程師利用到最新的PC，CPU和總線技術(shù)所帶來的性能提升。

　　CPU成為了許多高要求射頻測試應(yīng)用的瓶頸，CPU有限的并行機(jī)制和軟件棧將會(huì)導(dǎo)致延時(shí)，對(duì)于有些需要根據(jù)測量值或待測設(shè)備(DUT)的狀態(tài)而動(dòng)態(tài)調(diào)整測試激勵(lì)的應(yīng)用，就會(huì)影響到測試效果。為了達(dá)到最理想的射頻測試系統(tǒng)效果，需要結(jié)合使用自定義儀器硬件和多核技術(shù)，這也能使測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員得以找到低延時(shí)和高吞吐量之間的平衡點(diǎn)，從而大幅減少測試時(shí)間。

　　雖然現(xiàn)成即用的儀器硬件的性能早已被改善，NI仍然致力于運(yùn)用現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)技術(shù)提供更加開放和靈活的測試設(shè)備。簡而言之，FPGA是一種用戶可以自定義的高密度的數(shù)字芯片，可以使得測試工程師將他們的自定義信號(hào)處理方法和控制算法結(jié)合到測試硬件中。因此，即成可用的射頻硬件包含了諸多優(yōu)點(diǎn)：高質(zhì)量的測量技術(shù)，且在其最新的構(gòu)件中包含了可靠的，可溯源的測量方法，通過與高度并行的用戶自定義邏輯相結(jié)合，可以產(chǎn)生較低的延遲，并且它能夠與I/O直接連接以用于在線處理和嚴(yán)格的控制環(huán)路。

　　關(guān)于此類硬件的一個(gè)案例是NI PXIe-5644R vector signal transceiver (VST)。該設(shè)備融合了矢量信號(hào)發(fā)生器和矢量信號(hào)分析儀的功能，并包含了一個(gè)用戶可編程FPGA來用于實(shí)時(shí)信號(hào)處理和控制。由于FPGA賦予其更多的靈活性，VST非常適合用于自定義觸發(fā)，待測設(shè)備控制，并行測試和實(shí)時(shí)數(shù)字信號(hào)處理(DSP)。

　　使用LabVIEW FPGA將LabVIEW的運(yùn)用擴(kuò)展至硬件自定義

　　雖然FPGA已廣泛用于自定義主板設(shè)計(jì)或是即成可用設(shè)備的一部分，但用戶自定義FPGA迄今為止還未被大量用于即成可用的射頻儀器設(shè)備中。這主要是因?yàn)閷?duì)這些設(shè)備進(jìn)行編程需要擁有專業(yè)的背景知識(shí)。硬件描述語言或HDL，通常學(xué)習(xí)起來非常困難，唯有數(shù)字電路設(shè)計(jì)專家才能勝任。

　　LabVIEW FPGA模塊可以幫助大量的工程師和科學(xué)家接觸到最新的FPGA技術(shù)。使用圖形化編程方法，用戶可以在硬件中實(shí)現(xiàn)邏輯定義射頻儀器的行為。事實(shí)上，LabVIEW的圖形化數(shù)據(jù)流的特性非常適合用于實(shí)現(xiàn)并視覺化呈現(xiàn)那些可在FPGA上進(jìn)行的并行操作。雖然使用LabVIEW對(duì)FPGA編程還是略有區(qū)別，也需要進(jìn)行額外的學(xué)習(xí)，但其難度將明顯小于學(xué)習(xí)HDL的難度。

　　圖1，使用LabVIEW FPGA模塊，用戶可以使用熟悉的LabVIEW代碼對(duì)儀器硬件進(jìn)行自定義。對(duì)于射頻應(yīng)用，用戶可以以預(yù)創(chuàng)建的范例項(xiàng)目為基礎(chǔ)，添加相應(yīng)修改以實(shí)現(xiàn)自定義觸發(fā)，待測設(shè)備控制，信號(hào)處理等功能。

　　許多LabVIEW FPGA的范例項(xiàng)目都可以作為您射頻應(yīng)用的起始點(diǎn)，并且這些項(xiàng)目也能在諸如NI PXIe-5644R VST之類的設(shè)備上使用。值得一提的是，用戶可以根據(jù)儀器數(shù)據(jù)移動(dòng)模式(與矢量信號(hào)分析儀或發(fā)生器擁有相似的自定義開始，停止和參考觸發(fā)顯示界面)，或者根據(jù)數(shù)據(jù)流模式(適用于在線信號(hào)處理或者錄制和回放應(yīng)用)對(duì)FPGA進(jìn)行自定義。

　　軟件設(shè)計(jì)儀器與傳統(tǒng)方法的對(duì)比

　　在射頻測量系統(tǒng)中運(yùn)用基于FPGA的硬件可以帶來從低延時(shí)待測設(shè)備的控制到減少CPU負(fù)載等諸多好處。在下文中將介紹更多不同應(yīng)用的詳細(xì)情況。

　　使用交互式待測設(shè)備控制方法，提高測試系統(tǒng)的整合度

　　在許多射頻測試系統(tǒng)中，需要使用數(shù)字信號(hào)或自定義協(xié)議來控制需要被控制的設(shè)備和芯片。傳統(tǒng)的自動(dòng)化測試系統(tǒng)可以通過待測設(shè)備的模式進(jìn)行排序，在每一個(gè)不同的階段進(jìn)行所需的測量工作。有些智能型的自動(dòng)化測試儀器(ATE)系統(tǒng)可以根據(jù)接收到的測量值在待測設(shè)備設(shè)置之間進(jìn)行排序。

　　對(duì)于任意兩種情況，包含了FPGA的軟件設(shè)計(jì)儀器都可以降低成本并減少測試時(shí)間。將測量處理和數(shù)字控制整合至一個(gè)儀器中可以降低系統(tǒng)對(duì)其他數(shù)字I/O的需求，并且也無需在儀器間對(duì)觸發(fā)進(jìn)行配置。對(duì)于有些必須根據(jù)接受到的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行控制的待測設(shè)備，軟件設(shè)計(jì)儀器可以在硬件中關(guān)閉循環(huán)，以減少因在軟件中進(jìn)行決策所帶來的高延時(shí)。