安捷倫發(fā)布適用于電子測量的多功能分析儀

　　安捷倫科技公司日前宣布推出Agilentx1149邊界掃描分析儀。

　　邊界掃描已經成為工程師們在應對日益增加的測試接入挑戰(zhàn)時必不可少的技術。x1149邊界掃描分析儀是一款功能廣泛、使用方便的電路板測試工具，能夠幫助用戶進行電路板設計和驗證，以及在生產過程中重復進行相同的x1149測試。

　　該分析儀提供了直觀的操作界面，您只需點擊一下鼠標便可在屏幕上輕松瀏覽所有信息。關鍵特性包括：

　　•覆蓋擴展技術和硅釘能力。

　　•直接使用STAPL標準文件用于CPLD/FPGA的燒錄。

　　•掃描路徑鏈接器(ScanPathLinker)可將多條鏈路連接到一條鏈路上。

　　•完全兼容的器件支持IEEE1149.1和IEEE1149.6標準。

　　安捷倫測量系統(tǒng)事業(yè)部總經理BoonKhimTan表示：“在iNEMI調查中，90%的受訪者認為內置自測(BIST)功能是產品測試的關鍵;而60%的電路板設計人員表示自己需要使用BIST對電路板的性能進行驗證。BIST的接入方法主要是通過邊界掃描進行接入。”

　　“x1149邊界掃描分析儀是安捷倫為滿足業(yè)界更多BIST需求而特別設計的。我們持續(xù)致力于為客戶提供最佳的投資回報，x1149就是證明。它是一款多功能的儀器，可在從設計和驗證到批量生產的整個產品開發(fā)過程中使用。所有儀器均具有相同的測試可過渡移植性、可靠性和穩(wěn)定性，這是安捷倫解決方案的標志性優(yōu)勢。”