安捷倫在(EDI CON)展示最新射頻微波與高速數(shù)字測試解決方案

　　日前，首屆電子設計創(chuàng)新會議(EDI CON2013)在京舉行。作為全球最大的測試測量公司，安捷倫科技(NYSE：A)是本次會議的白金贊助商，安捷倫以“為中國的未來培育創(chuàng)新設計”為本次會議主題，集結(jié)來自全球各地的專家和最新的測試應用方案亮相首屆電子設計創(chuàng)新會議。

　　在本次大會上，安捷倫共設有14個專題講座、8個專題討論以及超過10個主題的測試應用方案展示，參與大會的設計、測量與建模、系統(tǒng)工程和商業(yè)應用環(huán)節(jié)，全面展示安捷倫在射頻微波與高速數(shù)字測試領域的最新測試應用方案，助力于為中國的未來培育創(chuàng)新設計?！　?/p>

　　

 

　　安捷倫在此次展會上展示一系列技術(shù)上的創(chuàng)新產(chǎn)品。如針對國防、航空航天等高精尖領域發(fā)展的業(yè)界最高性能實時頻譜分析儀PXA，應對惡劣環(huán)境等現(xiàn)場測試的十合一射頻儀表Fieldfox，精確測量小信號的高清示波器9000H系列。

　　此外，安捷倫還專門展示了7個主題鮮明的測試應用方案，包括功放設計與測試、寬帶信號的產(chǎn)生與分析、高速數(shù)字設計和信號完整性測試分析、EMI一致性測試、EDA仿真設計、模塊化測試與應用，以及業(yè)界唯一的LTE 8X8信號生成與分析解決方案。