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          邏輯信號測試儀的設計與實現

          作者:黃天辰 王帥 王文豪 李少波 時間:2013-03-21 來源:電子產品世界 收藏

            摘要:采用中小規(guī)模集成電路,設計并實現了一種。該不僅能區(qū)分邏輯電平的三種狀態(tài):高電平、低電平、高阻,而且還能區(qū)分脈沖信號及其頻率的數量級。的電源電壓范圍寬(3~18V),適用于各種類型的數字電路的測試,具有實現容易、操作簡單、功能可靠、價格低廉、實用性強等優(yōu)點。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/143373.htm

            引言

            在數字電路的調試和檢修時,常常要對電路中某點的進行測試,采用萬用表或示波器等儀器儀表很不方便,而采用邏輯信號測試儀通過幾個發(fā)光二極管就可以指示被測信號的邏輯狀態(tài)及脈沖信號的頻率范圍,使用簡單方便,給數字電路實驗和電路設計開發(fā)帶來便利。本文采用中小規(guī)模集成電路設計并實現了一種邏輯信號測試儀,不僅能區(qū)分邏輯電平的狀態(tài)和脈沖信號頻率的數量級,而且適用于各種類型的數字電路邏輯信號的測試。如果將電路安裝成邏輯測試筆,使用就更為方便。

            設計與實現

            功能設計

            邏輯信號測試儀主要包括邏輯信號狀態(tài)的區(qū)分和脈沖信號頻率的區(qū)分兩部分功能。其中邏輯信號狀態(tài)的區(qū)分主要通過雙電壓比較器電路實現,而脈沖信號頻率的區(qū)分可利用數字頻率計的原理實現。由于邏輯信號測試儀的電源來自被測電路,為滿足各種類型的數字電路邏輯信號的測試,故所用芯片必須是能單電源供電且電源范圍較寬的模擬電路芯片和CMOS類的數字集成電路芯片。

            邏輯信號狀態(tài)的區(qū)分

            為實現邏輯信號狀態(tài)的區(qū)分,可用運算放大器(如LM358)或電壓比較器(如LM393)實現一個雙限電壓比較器進行區(qū)分,其關鍵在于參考電壓的設定,電路如圖1所示。本設計為了適用于各種類型的數字電路邏輯信號的測試,僅對邏輯電平作了簡單區(qū)分,設定為:被測信號如果小于0.2VCC則為低電平(LED2亮);如果大于0.4VCC則為高電平(LED1亮);如果介于兩者之間則為高阻態(tài)(兩個發(fā)光二極管都不亮);如果時大時小交替的則為脈沖信號(兩個發(fā)光二極管常亮或交替亮)。其中Vi為被測信號輸入端,R1、R2和D1、D2起到了輸入端靜電防護功能,R3、R4保證了在輸入端懸空時顯示為高阻態(tài)。如需嚴格適應TTL和CMOS等各種類型集成電路的邏輯電平的測試,應根據各種類型數字電路的邏輯電平特點,嚴格設定各自的參考電壓,并將其參考電壓設定支路區(qū)分開來,用開關電路進行切換?! ?/p>

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