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          概倫電子推出新一代千兆級并行SPICE仿真器NanoSpice

          作者: 時間:2013-04-12 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            業(yè)界領(lǐng)先的良率導(dǎo)向設(shè)計技術(shù)供應(yīng)商和半導(dǎo)體器件模型解決方案的全球領(lǐng)導(dǎo)廠商科技有限公司(ProPlus Electronics Co., Ltd., 下稱)近日宣布推出,專為千兆級電路仿真和良率導(dǎo)向設(shè)計而研發(fā)的新一代大容量、高性能并行SPICE

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/144131.htm

            在推出的同時,展示了一個創(chuàng)新的針對并行SPICE仿真的軟件授權(quán)模式,為電路設(shè)計師進行大規(guī)模電路仿真提供了業(yè)界最為簡單且最為經(jīng)濟有效的選擇。

            概倫電子董事長兼總裁劉志宏博士指出:“由于工藝漂移嚴重影響了電路的良率和性能,在納米級電路設(shè)計中,新的仿真技術(shù)不可或缺。”他表示,設(shè)計師在電路仿真中無法保證仿真的容量或性能的情況下,只能以損失精度為代價,因此大規(guī)模后仿真對高精度、千兆級電路仿真的需求程度前所未有。

            對千兆級電路仿真的需求緣于更加復(fù)雜的設(shè)計及由于工藝漂移影響所引起的大量樣本的電路仿真要求。傳統(tǒng)的SPICE即使采用并行技術(shù)也不能完全滿足日益增大的電路仿真的容量要求。同時,越來越多的設(shè)計要求進行后仿真的驗證因而其電路層次被減少甚至平坦化,而FastSPICE只能以損失精度為代價來提升電路仿真的容量,因而FastSPICE也在逐漸失去其吸引力。另外,對于擁有多個工作模式和供電電壓的復(fù)雜千兆級電路設(shè)計,F(xiàn)astSPICE的查表模型計算、矩陣的近似求解和使用上的復(fù)雜性也往往導(dǎo)致其仿真結(jié)果的不可靠甚至很多情況下的不可用。

            關(guān)于新一代千兆級并行SPICE電路

            NanoSpice作為業(yè)界最高精度標(biāo)準(zhǔn)的SPICE電路仿真器,與概倫電子的BSIMProPlusTM擁有相同的核心SPICE引擎,因而缺省內(nèi)嵌了高精度、高兼容性的半導(dǎo)體代工廠(foundry)驗證的模型庫,并且支持所有的SPICE分析功能和業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的輸入和輸出。BSIMProPlus作為業(yè)界黃金標(biāo)準(zhǔn)的SPICE模型建模平臺,已被全球所有領(lǐng)先的半導(dǎo)體代工廠所采用。

            NanoSpice比傳統(tǒng)的SPICE仿真器快幾十甚至上百倍,可以處理各種類型的電路,如5千萬器件及以上的大規(guī)模通用型電路以及上億器件規(guī)模的存儲器電路。NanoSpice適用于存儲器、模擬/混合信號、輸入/輸出接口、定制化數(shù)字及標(biāo)準(zhǔn)單元等類型電路的仿真,還可以被用于處理更具挑戰(zhàn)性的設(shè)計,包括大型嵌入式靜態(tài)存儲器(SRAM)模塊的SPICE仿真、大規(guī)模模擬電路的后仿真、電源類電路或無線收發(fā)電路的全芯片驗證、以及時鐘樹和關(guān)鍵路徑的高精度分析等。

            在一個用戶使用實例中,NanoSpice可以在不到2天的時間里完成一個幾百萬器件的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)電路的后仿真,并且通過信噪比(SNR)測量驗證了其SPICE精度。相比之下,其他的并行SPICE仿真器則需花費數(shù)周時間才能完成同樣精度的工作。在另一個用戶使用實例中,NanoSpice可以通過其memory模式在SPICE精度下仿真一個5千萬晶體管的SRAM模塊,其他的并行SPICE仿真器則根本無法運行如此龐大的仿真分析。

            針對千兆級電路仿真的需求,NanoSpice具有極高的存儲器使用效率,通過高效的模型處理及高性能的并行技術(shù)進行全矩陣求解,而不做任何有損精度的近似和簡化,并通過先進的蒙特卡羅(Monte Carlo)仿真技術(shù)用來處理3s到高s的的工藝漂移效應(yīng)。在最近的用戶使用實例中,NanoSpice使用8線程運行一個擁有5億7千萬器件的存儲器電路的全芯片仿真驗證僅耗時8小時,消耗15G內(nèi)存。

            NanoSpice可與概倫電子的良率導(dǎo)向設(shè)計平臺NanoYield相集成,用于分析工藝漂移對芯片良率和性能的影響,并進行工藝-電壓-溫度角模型(PVT Corner)分析、快速蒙特卡羅、或者基于IBM授權(quán)技術(shù)的且經(jīng)過硬件結(jié)果驗證的高s樣本的仿真分析。當(dāng)進行大量樣本的仿真時,NanoYield通過業(yè)界最為經(jīng)濟有效的軟件授權(quán)模式,可以在一個服務(wù)器的多個CPU或分布式計算機集群上進行近似線性的并行增速。NanoSpice與NanoYield的緊密集成可以加速工藝漂移的仿真分析進而實現(xiàn)良率與功率、性能與面積權(quán)衡的優(yōu)化,其速度可比NanoYield調(diào)用其他外部并行SPICE仿真器快二十幾倍。



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