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          EDI CON 2013在北京如期召開

          作者:萬翀 時間:2013-04-25 來源:電子產品世界 收藏

            2013年3月12~14日,由Microwave Journal及其中文版《微波雜志》主辦的電子設計創(chuàng)新會議( CON 2013)如期在北京順利召開。 CON為當前通訊、計算、RFID及工業(yè)無線監(jiān)測等領域的學者、工程師提供最新的RF微波及高速率傳輸產品和技術,以及多層次的行業(yè)學習機會。 CON會議主要聚焦在實際應用、新興技術和實際工程案例分析,邀請到了行業(yè)和技術領域的領導廠商來承辦技術研討會、分組分會和專家講座,把展覽和會議緊密地聯合在一起。安捷倫、羅德與施瓦茨、泰克、國家儀器等多家測試測量領域的主要廠商都參與其中。EDI CON邀請到了眾多國內外知名的學者參與,其中,歐洲太空總署電磁學和空間環(huán)境部主任Bertram R. Arbesser-Rastburg先生在開幕式全體會議上介紹了在空間應用中的現狀,空間應用對于的特殊要求和影響等。作為相關領域重要的會議和展會第一次在中國舉辦,無疑對國內外微波技術相關領域的交流有著推動作用。  

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/144678.htm


          關鍵詞: EDI 微波技術 201304

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