基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案

　　摘要：本方案采用安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀N5106A PXB或安捷倫最新信號發(fā)生器N5182B/N5172B作為測試平臺，通過Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE測試信號并經(jīng)過信道衰落后送給基站進行解碼從而可以統(tǒng)計出基站的吞吐率。

　　LTE(Long Term Evolution,長期演進)技術(shù)是第三代移動通信演進的主要方向。作為一種先進的技術(shù)，LTE系統(tǒng)在提高峰值數(shù)據(jù)速率、小區(qū)邊緣速率、頻譜利用率、控制面和用戶面時延以及降低運營和建網(wǎng)成本等方面擁有巨大的優(yōu)勢。同時，LTE系統(tǒng)與現(xiàn)有系統(tǒng)(2G/2.5G/3G)能夠共存，并且實現(xiàn)平滑演進。

　　LTE系統(tǒng)按照雙工方式分為頻分雙工(FDD)和時分雙工(TDD)兩種。其中LTE-TDD制式相對于FDD制式具有頻譜利用靈活、支持非對稱業(yè)務(wù)等諸多優(yōu)勢，是中國通信業(yè)界力推的國際標準。

　　系統(tǒng)吞吐率是衡量TD-LTE基站綜合性能的重要指標。吞吐率的測試需要基站(eNB)與測試儀器(模擬UE)之間實現(xiàn)實時反饋并動態(tài)調(diào)整。測試儀器不僅需要能夠生成符合3GPP標準的TD-LTE 上行信號，同時還需要模擬相應(yīng)的信道衰落模型，并且根據(jù)基站下發(fā)的ACK/NACK指令實時地調(diào)整發(fā)射信號的編碼冗余因子，以模擬真實的通信環(huán)境。

　　HARQ測試原理

　　上行HARQ方式

　　LTE系統(tǒng)將在上行鏈路采用同步非自適應(yīng)HARQ技術(shù)。雖然異步自適應(yīng)HARQ技術(shù)與同步非自適應(yīng)技術(shù)比較，在調(diào)度方面的靈活性更高，但是后者所需的信令開銷更少。由于上行鏈路的復(fù)雜性，來自其他小區(qū)用戶的干擾是不確定的，因此基站無法精確估測出各個用戶實際的信干比(SINR)值。由于SINR值的不準確性導(dǎo)致上行鏈路對于調(diào)制編碼模式(MCS)的選擇不夠精確，所以更多地依賴HARQ技術(shù)來保證系統(tǒng)的性能。因此，上行鏈路的平均傳輸次數(shù)會高于下行鏈路。所以，考慮到控制信令的開銷問題，在上行鏈路使用同步非自適應(yīng)HARQ技術(shù)。

　　上行HARQ時序

　　LTE TDD制式的上下行信號在時域上交錯分布，因此其HARQ時序映射關(guān)系較FDD更為復(fù)雜。根據(jù)3GPP TS 36.213規(guī)定，TDD制式不同UL/DL Configuration下，下行子幀只在規(guī)定位置發(fā)送ACK/NACK指令，每個位置發(fā)送的ACK/NACK指令對應(yīng)特定的上行子幀信號，如表1所示?！　?/p>

 

　　3GPP TS 36.141規(guī)定性能測試只需在配置1下進行，因此可以根據(jù)表1的描述得到配置1時的時序圖。