FPGA易測試性分析
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本文就調(diào)試FPGA系統(tǒng)時遇到的問題及有助于提高調(diào)試效率的方法，針對Altera和Xilinx的FPGA調(diào)試提供了最新的方法和工具。
1 FPGA一般設計流程
在FPGA系統(tǒng)設計完成前，有2個不同的階段：設計階段、調(diào)試和檢驗階段，如圖1所示。設計階段的主要任務是輸入、仿真和實現(xiàn)；調(diào)試和檢驗階段的主要任務是檢驗設計，校正發(fā)現(xiàn)的錯誤。
1.1 設計階段
在這一階段不僅要設計，而且要使用仿真工具開始調(diào)試。實踐證明，正確使用仿真為找到和校正設計錯誤提供了一條有效的途徑。但是，不應依賴仿真作為調(diào)試FPGA設計的唯一工具。
在設計階段，還需要提前考慮調(diào)試和檢驗階段，規(guī)劃怎樣在線快速調(diào)試FPGA，這可以定義整體調(diào)試方法，幫助識別要求的任何測試測量工具，確定選擇的調(diào)試方法對電路板設計帶來的影響。針對可能選用的FPGA存在的高速總線，除了考慮邏輯時序的測試和驗證外，還應該充分考慮后面可能面臨的信號完整性測試和分析難題。
1.2 調(diào)試和檢驗階段
在調(diào)試階段，必須找到仿真沒有找到的棘手問題。怎樣以省時省力的方式完成這一工作是一個挑戰(zhàn)。本文將研究如何選擇正確的FPGA調(diào)試方法及如何有效地利用新方法的處理能力，這些新方法可以只使用少量的FPGA針腳查看許多內(nèi)部FPGA信號。如果使用得當，可以突破最棘手的FPGA調(diào)試問題。
1.3 FPGA調(diào)試方法
在設計階段需要作出的關鍵選擇是使用哪種FPGA調(diào)試方法。在理想情況下，設計者希望有一種方法，這種方法可以移植到所有FPGA設計中，能夠洞察FPGA內(nèi)部運行和系統(tǒng)運行過程，為確定和分析棘手的問題提供相應的處理能力。
基本在線FPGA調(diào)試方法有2種：使用嵌入式邏輯分析儀以及使用外部邏輯分析儀。選擇使用何種方法取決于項目的調(diào)試需求。
2 嵌入式邏輯分析儀內(nèi)核
主要的FPGA廠商針對器件的在線調(diào)試都提供了嵌入式邏輯分析儀內(nèi)核，這些知識產(chǎn)權模塊插入FPGA設計中，同時提供觸發(fā)功能和存儲功能。它們使用FPGA邏輯資源實現(xiàn)觸發(fā)電路；使用FPGA存儲模塊實現(xiàn)存儲功能；使用JTAG配置內(nèi)核操作，并用它將捕獲的數(shù)據(jù)傳送到PC上進行查看。
由于嵌入式邏輯分析儀使用內(nèi)部FPGA資源，因此其通常用于大型FPGA，這些大型FPGA可以更好地消化插入內(nèi)核帶來的開銷。一般來說，用戶希望內(nèi)核占用的FPGA邏輯資源不超過可用資源的5％。
與其他調(diào)試方法一樣，還要知道這種方法存在的部分矛盾。
2.1 針腳與內(nèi)部資源
嵌入邏輯分析儀內(nèi)核不使用額外的測試針腳，因為它通過現(xiàn)有的JTAG針腳訪問內(nèi)核。這意味著即使設計受到FPGA針腳限制，仍可以使用這種方法。矛盾在于，它使用的內(nèi)部FPGA邏輯資源和存儲模塊可以用來實現(xiàn)設計。此外，由于使用片內(nèi)內(nèi)存存儲捕獲的數(shù)據(jù)，因此內(nèi)存深度一般相對較淺。
2.2 探測與運行模式
嵌入式邏輯分析儀核心的探測非常簡單，它使用現(xiàn)有的JTAG針腳。矛盾在于，盡管嵌入式邏輯分析儀可以查看FPGA操作，但沒有一種方式將這些信息與電路板級或系統(tǒng)級信息時間關聯(lián)起來。而將FPGA內(nèi)部的信號與FPGA外部的信號關聯(lián)起來對解決棘手的調(diào)試問題至關重要。在分析方法上，嵌入式邏輯分析儀只能進行狀態(tài)分析。
2.3 成本與靈活性
大多數(shù)FPGA廠商提供了嵌入式邏輯分析儀內(nèi)核，而其價格要低于全功能外部邏輯分析儀。雖然用戶希望更多的功能，但嵌入式邏輯分析儀內(nèi)核的功能無論從通用性、分析方式、觸發(fā)能力，還是從存儲和分析能力都弱于全功能外部邏輯分析儀，而用戶通常需要這些功能來捕獲和分析棘手的調(diào)試問題。例如，嵌入式邏輯分析儀只能在狀態(tài)模式下操作，它們捕獲與FPGA設計中已有的指定時鐘同步的數(shù)據(jù)，因此不能提供精確的信號定時關系。
3 外部邏輯分析儀
由于嵌入式邏輯分析儀方法存在部分限制，F(xiàn)PGA設計人員采用外部邏輯分析儀方法，來利用FPGA的靈活性和外部邏輯分析儀的處理能力，如泰克TLA系列邏輯分析儀。
在這種方法中，有用的內(nèi)部信號路由到FPGA沒有使用的針腳上，然后連接到邏輯分析儀上。這種方法提供了非常深的內(nèi)存，適合調(diào)試出現(xiàn)故障和實際導致該故障的原因在時間上相距很遠的問題；對于需要采集大量數(shù)據(jù)進行后期分析的設計人員也非常必要。另外，它還可以把內(nèi)部FPGA信號與電路系統(tǒng)中的其他活動時間關聯(lián)起來。
與嵌入式邏輯分析儀方法一樣，也需要考慮許多矛盾。
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