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          基于Compact PCI體系的高性能監(jiān)測(cè)測(cè)向處理平臺(tái)研究

          作者: 時(shí)間:2010-06-22 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          為了克服傳統(tǒng)測(cè)向系統(tǒng)通用性和擴(kuò)展性差的缺點(diǎn)[1],本文依托軟件無線電技術(shù)[2],對(duì)一體化設(shè)計(jì)所需的高速實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集以及高速實(shí)時(shí)分析所需的終端硬件結(jié)構(gòu)進(jìn)行了深入闡述。該系統(tǒng)能夠滿足目前新體制和復(fù)雜信號(hào)環(huán)境下的測(cè)向設(shè)備各項(xiàng)指標(biāo)要求,在有效節(jié)約資源和成本的同時(shí),擁有較高水平的多系統(tǒng)集成效能。在過程中,本文綜合考慮目前數(shù)字處理終端與不同類型CPU(主機(jī))的接口與結(jié)構(gòu)關(guān)系的優(yōu)缺點(diǎn),最終選擇了 測(cè)向處理設(shè)計(jì)方案。
          1 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
          本文所述的結(jié)構(gòu)具有靈活性和開放性的特點(diǎn),其主要工作原理為:大規(guī)模FPGA用于接收多通道高速采樣數(shù)據(jù)流,完成必要的預(yù)處理;主控FPGA依據(jù)每路信號(hào)的處理要求仲裁各路FPGA/DSP的片選信號(hào),同步啟動(dòng)進(jìn)行實(shí)時(shí)處理;多片實(shí)時(shí)處理DSP和主控FPGA緊耦合構(gòu)成并行處理系統(tǒng)的核心;最后通過局部總線接口送入中央處理CPU作進(jìn)一步分析處理,完成信息的綜合存儲(chǔ)管理等[3]。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。

          多片實(shí)時(shí)處理DSP和主控FPGA緊耦合構(gòu)成并行處理系統(tǒng)的核心

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/151775.htm

          2 具體方案
          2.1 高速數(shù)據(jù)采集

          高速數(shù)據(jù)采集是監(jiān)測(cè)測(cè)向處理[4]的首要問題。其設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),一方面由需求引導(dǎo),另一方面也要求對(duì)系統(tǒng)各個(gè)環(huán)節(jié)有整體的把握。合理設(shè)計(jì)模擬信號(hào)調(diào)理電路、高穩(wěn)時(shí)鐘產(chǎn)生電路、高速數(shù)據(jù)流傳輸路徑、合理的時(shí)序及控制邏輯,并充分考慮信號(hào)完整性和電磁兼容等問題,是設(shè)計(jì)一個(gè)數(shù)據(jù)采集模塊的基本保障。
          對(duì)于本文所關(guān)注的高速數(shù)據(jù)采集而言,若直接采用滿足采樣率設(shè)計(jì)要求的單片ADC芯片實(shí)現(xiàn),會(huì)帶來動(dòng)態(tài)范圍不夠、缺乏靈活性和成本較高、風(fēng)險(xiǎn)較大等問題。而如果選擇采用多片采樣率較低的芯片用交替采樣的方法來實(shí)現(xiàn)高速采樣的方案,則電路較復(fù)雜,而且多片ADC之間延時(shí)的不一致和增益的不匹配會(huì)使采樣后的信號(hào)難以無失真的復(fù)合。鑒于此,本文所述的高速數(shù)據(jù)采集設(shè)計(jì)思路是:模塊化設(shè)計(jì)具有適當(dāng)采樣率的A/D板,頻帶分割和精確同步觸發(fā)的寬帶、大動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)采集方案。本技術(shù)架構(gòu)在硬件設(shè)計(jì)上具有模塊化、可擴(kuò)展的特色,在性能上具有等效采樣率高及采樣帶寬不受ADC及調(diào)理電路限制的優(yōu)點(diǎn)。采集模塊工作原理如圖2所示。

          高速ADC是大功耗器件,通常更高的采樣率將消耗更多的功耗。在使用多ADC多通道的系統(tǒng)中,耗散問題則更為嚴(yán)重。Linear推出低功耗14 bit、125MS/s ADC LTC2261,該器件功耗127 mW,用1.8 V低壓模擬電源工作,提供73.4 dB的信噪比和85 dB的無寄生動(dòng)態(tài)范圍。0.17 ps RMS的超低孔徑抖動(dòng)允許其以卓越噪聲性能進(jìn)行中頻欠采樣。創(chuàng)新性數(shù)字輸出可以設(shè)置為全速率CMOS、雙數(shù)據(jù)速率CMOS或雙數(shù)據(jù)速率LVDS。雙數(shù)據(jù)速率數(shù)字輸出允許數(shù)據(jù)在時(shí)鐘的上升沿和下降沿發(fā)送,從而將所需數(shù)據(jù)線數(shù)量減少了一半。另外,對(duì)高速信號(hào)進(jìn)行高分辨率的數(shù)字化處理需審慎設(shè)計(jì)時(shí)鐘電路,就LTC2261和LTC其他高速14 bit系列ADC所表現(xiàn)出的性能看,在高速采樣時(shí),0.5 ps的抖動(dòng)就可對(duì)SNR產(chǎn)生明顯影響。由公式(1)可以看出,采樣速率越高、轉(zhuǎn)換位數(shù)越多,對(duì)A/D采樣時(shí)鐘的抖動(dòng)指標(biāo)要求就越高。


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