RapidIO技術測試思路分析

　　圖4：串行RapidIO模板定義

　　圖5：串行RapidIO測試結果示例(使用安捷倫基于示波器的自動測試軟件)

　　RapidIO互連通道測試

　　物理層結構正日益成為高速數(shù)字系統(tǒng)性能的瓶頸。在較低的信號速率時，這些互連的電

　　長度很短，驅動器和接收機一般是導致信號完整性問題的最主要因素。但隨著時鐘速率、總

　　線速率及鏈路速率突破每秒千兆大關，物理層特性測試正變得日益關鍵。

　　時域分析一般用來描述這些物理層結構的特征，但通常情況下，設計人員在測試時往往

　　只考慮器件工作在其被期望的工作模式上時的情況。為了獲得一個完整的時域信息，必須要

　　測試反射和傳輸(TDR和TDT)中的階躍和脈沖相應。

　　為了全面描述物理層結構的特征，還必須進行頻域分析。S參數(shù)模型說明了這些數(shù)字電

　　路結構所展示出來的模擬特點包括：不連續(xù)點反射、頻率相關損耗、串擾和EMI等性能。

　　為使設備性能符合標準，眼圖增加了重要的統(tǒng)計分析功能。為利用全面特性檢定技術改

　　善仿真能力，可以采用基于測試結果的S參數(shù)或RLCG模型提取技術。

　　隨著在多種工作模式下進行數(shù)字和模擬綜合分析(時域和頻域)變得越來越重要，要完

　　成這些測試功能，通常需要使用多種測試儀表，同時操作多種儀表正變得越來越困難。物理

　　層測試系統(tǒng)PLTS是為了解決這種困難而設計的。它使用已獲專利的變換算法，自動地在頻

　　域和時域里表示在所有可能的工作模式(單端、差分、共模和模式轉換)下所得到的前向和

　　后向、傳輸和反射的測試數(shù)據(jù)。強大的虛擬碼型發(fā)生器功能可以把用戶定義的二進制序列應

　　用到被測的數(shù)據(jù)上，形成仿真的眼圖。同時，可以提取高精度的RLCG模型，用來提高建

　　模的仿真的精度。圖6是RapidIO互連通道測試要求：

　　圖6：串行RapidIO互連通道損耗規(guī)范(以3.125Gbps為例)

　　圖7：串行RapidIO互連通道測試結果(使用Agilent物理層測試系統(tǒng))

　　安捷倫物理層測試方案功能