TD-SCDMA智能天線(xiàn)基本原理和測(cè)試方法簡(jiǎn)介

針對(duì)第3項(xiàng)測(cè)試（共需要9個(gè)端口），RS ZVT只需要兩步就可完成（如圖6和圖7所示），同時(shí)結(jié)合Trace Math（軌跡計(jì)算，對(duì)多個(gè)軌跡進(jìn)行任意的計(jì)算，以擴(kuò)展測(cè)量功能）功能，可以實(shí)時(shí)的計(jì)算并顯示各通道幅度/相位一致性（如圖8所示）。

圖6 RS ZVT 針對(duì)智能天線(xiàn)幅度相位一致性的測(cè)試（第1步）

圖7 RS ZVT 針對(duì)智能天線(xiàn)幅度相位一致性的測(cè)試（第2步）

圖8 典型的幅度一致性測(cè)試結(jié)果（校準(zhǔn)口到各天線(xiàn)端口）

針對(duì)第4項(xiàng)測(cè)試，借助結(jié)合RS ZVT的強(qiáng)大的Trace Math功能，可以將公式（2.3）中的θ編入ZVT的公式編輯器中，結(jié)合RS ZVT測(cè)量的全矩陣（2.4），可以實(shí)時(shí)地顯示各端口的有源反射系數(shù)，典型的測(cè)量結(jié)果如圖9，圖10所示：

圖9 智能天線(xiàn)端口1的有源反射系數(shù)（k*d*sinθ=π/3條件下）

其中：k=2*π/λ,d=相鄰天線(xiàn)單元的間隔（此兩項(xiàng)為常量）；

θ為智能天線(xiàn)合成波束的掃描角（此項(xiàng)為變量）

圖10 智能天線(xiàn)端口1的有源反射系數(shù)（k*d*sinθ=π/5條件下）

其中：k=2*π/λ,d=相鄰天線(xiàn)單元的間隔（此兩項(xiàng)為常量）；θ為智能天線(xiàn)合成波束的掃描角（此項(xiàng)為變量）。

由圖9，圖10可知，利用ZVT的8端口和強(qiáng)大的Trace Math功能，可以實(shí)時(shí)的顯示任意掃描角下的各端口有源反射系數(shù)，為智能天線(xiàn)系統(tǒng)的研發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試提供了極大的便利。

4 結(jié)束語(yǔ)

智能天線(xiàn)比普通天線(xiàn)復(fù)雜得多，對(duì)智能天線(xiàn)系統(tǒng)的性能評(píng)估也比較復(fù)雜。在研發(fā)和生產(chǎn)階段必須對(duì)智能天線(xiàn)進(jìn)行全面測(cè)試，這樣才能對(duì)其性能進(jìn)行全面的考核，將智能天線(xiàn)的優(yōu)勢(shì)發(fā)揮出來(lái)。使用一般的2端口或4端口矢網(wǎng)很難全面、快速地測(cè)試智能天線(xiàn)。而RS的 ZVT 獨(dú)具8個(gè)端口，并有強(qiáng)大的Trace Math功能，因此能滿(mǎn)足智能天線(xiàn)的測(cè)試需求，能幫助天線(xiàn)廠家對(duì)其智能天線(xiàn)進(jìn)行快速、全面的測(cè)試。

附：相關(guān)名詞解釋

極化：是指電場(chǎng)在空間的運(yùn)動(dòng)軌跡。當(dāng)電場(chǎng)的運(yùn)動(dòng)軌跡為一條直線(xiàn)，稱(chēng)為線(xiàn)極化；當(dāng)運(yùn)動(dòng)軌跡為一個(gè)圓（或橢圓）時(shí)，稱(chēng)為圓（或橢圓）極化。線(xiàn)極化又分為垂直極化（即極化方向與地面垂直）和水平極化；圓極化又分為左旋圓極化和右旋圓極化（采用右手法則）。

天線(xiàn)增益：是指天線(xiàn)在空間某點(diǎn)的輻射功率相對(duì)于理想的點(diǎn)源（無(wú)方向性天線(xiàn)，實(shí)際上不存在）在該點(diǎn)的輻射功率之比。

有源反射系數(shù)：對(duì)一個(gè)多口天線(xiàn)（或微波器件）而言，其他若干個(gè)相關(guān)端口有激勵(lì)的條件下某個(gè)端口的反射系數(shù)。