跨越RFID測試挑戰(zhàn)“三重門”，加速物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)發(fā)展

另外，由于RFID采用無線傳輸方式，再加上實(shí)際工作環(huán)境復(fù)雜，存在競爭、沖突和干擾問題。因此，RFID信號測試項(xiàng)目很多：包括許多和時間相關(guān)的參數(shù)，如讀寫器和標(biāo)簽發(fā)射機(jī)響應(yīng)時間參數(shù)、跳頻時間、碼元周期等，還包括頻域指標(biāo)、調(diào)制域指標(biāo)等。

曾志總結(jié)了RFID測試面臨的主要挑戰(zhàn)：
1.讀寫器測試
- 需要能夠準(zhǔn)確、快速地捕獲RFID的間歇性突發(fā)信號；
- 需要兼容多種調(diào)制和解碼方式及標(biāo)準(zhǔn)；
- 需要時域頻域和調(diào)制域的聯(lián)合分析，時間相關(guān)測量 （如標(biāo)簽讀取的時序）；
- 需要強(qiáng)大的頻域觸發(fā)功能，捕獲頻域上的特定信號（如干擾）；
- 跳頻信號捕獲（觸發(fā)）和解調(diào)分析 。
2.標(biāo)簽測試
- 需要對微弱信號的測量和分析能力；
- 需要兼容多種調(diào)制和解碼方式，自動解調(diào)和解碼
3.系統(tǒng)測試
- 密集環(huán)境下的交互和抗干擾測試；
- 一致性（互通性）測試；
- 系統(tǒng)讀寫周期分析；
- 解碼和信令測試；
- 需要長存儲，存儲多個完整的讀寫周期，便于對讀寫狀態(tài)分析。

“能實(shí)時、準(zhǔn)確捕獲RFID間歇性信號，支持多標(biāo)準(zhǔn)、多域分析功能等，這是相應(yīng)信號分析設(shè)備應(yīng)對上述三個方面測試挑戰(zhàn)所要具備的特性。”曾志指出，“泰克基于DPX專利技術(shù)的實(shí)時信號分析儀（RTSA）系列以及最新推出的集成頻譜分析儀的混合域示波器MDO4000系列為RFID研發(fā)、現(xiàn)場和認(rèn)證測試提供了強(qiáng)大的解決方案平臺。”
圖3： 實(shí)時頻譜分析儀和傳統(tǒng)頻譜分析儀的區(qū)別。

跨越研發(fā)、現(xiàn)場、認(rèn)證測試“三重門”

RFID的測試分為研發(fā)測試（讀寫器實(shí)驗(yàn)室研發(fā)、系統(tǒng)開發(fā)和驗(yàn)證）、現(xiàn)場測試（系統(tǒng)調(diào)試、電磁環(huán)境評估、干擾查找和定位、數(shù)據(jù)采集）和認(rèn)證測試（RFID標(biāo)準(zhǔn)一致性測試、系統(tǒng)互通性測試 ）三個階段。

泰克公司提供的RFID測試解決方案——RTSA和混合域分析儀及示波器MDO在研發(fā)測試階段所能發(fā)揮的作用分為以下三個方面：
1.讀寫器設(shè)備的Troubleshooting：如進(jìn)行讀寫器信號實(shí)時頻譜分析（頻率、功率、調(diào)制帶寬等），調(diào)制質(zhì)量分析，瞬態(tài)噪聲分析，跳頻捕獲和調(diào)制質(zhì)量分析，時序測量，命令測試等；
2.標(biāo)簽測試：靈敏的觸發(fā)設(shè)置，捕獲低調(diào)制深度標(biāo)簽信號，時序測量，頻譜測試，負(fù)載調(diào)制能量和質(zhì)量；
3.分析和評估讀寫器與標(biāo)簽互通特性：實(shí)時頻譜分析（同頻頻譜分析），時序測量，碰撞分析，標(biāo)簽調(diào)制回波質(zhì)量分析。