循環(huán)冗余校驗確保正確的數據通信
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表1. 采用分組差錯校驗的ADI 器件示例
產品型號 | 描述 | ||
AD5360/AD5361 | 16通道、16 位/14 位、±10 V DAC | ||
AD5362/AD5363 | 8通道、16 位/14 位、±10 V DAC | ||
AD5748 | 電流/電壓輸出驅動器，適合工業(yè)應用 | ||
AD5749 | 電流輸出驅動器，適合工業(yè)應用 | ||
AD5750/AD5750-1 | 電流/電壓輸出驅動器，輸出范圍可編程，適合工業(yè)應用 | ||
AD5751 | 電流/電壓輸出驅動器，適合工業(yè)應用 | ||
AD5755/AD5735 | 4通道、16 位、4 mA 至20 mA 電流和電壓輸出 DAC | ||
AD5757/AD5737 | 4通道、16 位、4 mA 至20 mA 電流輸出DAC | ||
ADT7470 | 溫度傳感器集線器和風扇控制器 |
生成分組差錯校驗和
CRC-8 算法采用多項式 C（x） = x8 + x2 + x1 + 1. For x = 2時，此式等于二進制值100000111。要生成校驗和，需將24 位數據左移 8 位，產生一個后8 位為邏輯0 的32 位數。對齊CRC 多項式，使其MSB 與該32 位數據最左側的邏輯1 對齊。對該數據施加一個異或（XOR）函數，以產生一個新（更短）的數字。（數字匹配得到邏輯0，不匹配得到邏輯1。）再次對齊CRC 多項式，使其MSB 與第一個結果最左側的邏輯1 對齊，重復上述步驟。最后，原始數據將減少至小于CRC 多項式的值。此值即是8 位校驗和。圖2 演示了推演校驗和的方法。
圖2. 生成24 位數（（0x*321））的校驗和
結論
圖2 中的示例采用（十六進制）值0x*321 作為24 位數據字。對該數據應用CRC-8 多項式可生成校驗和0x86。數據和校驗和發(fā)送至兼容的ADI 公司產品時，只有兩段數據都正確到達，該數據才會被接收。此方法提高了數據傳輸的可靠性，并可確保遭破壞的數據幾乎永遠不會被接收。
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