從設(shè)計(jì)上延長(zhǎng)手機(jī)電池壽命

       好像手機(jī)電池的壽命還不夠短，如果處理不好漏泄功率的話，頻繁的充電可能會(huì)成為向高級(jí)處理系統(tǒng)的升級(jí)的障礙。 
　　正常操作時(shí)，當(dāng)某個(gè)IC設(shè)備

處于激活狀態(tài)（比如當(dāng)某人正在使用手機(jī)打電話）時(shí)，它會(huì)產(chǎn)生動(dòng)態(tài)功率。當(dāng)該設(shè)備被關(guān)閉時(shí)，漏泄功率仍能將電池耗盡。在180、130、甚至90納米工藝中，漏泄功率只是動(dòng)態(tài)功率的一小部分，這樣當(dāng)電池繼續(xù)被消耗時(shí)，消耗速率極低。 
　　Zenasis Technologies的首席技術(shù)官兼董事會(huì)主席Jay Roy介紹說(shuō)，以65和45納米工藝生產(chǎn)出的設(shè)備，漏泄功率相當(dāng)大。 

　　比如，如果一部手機(jī)三天沒(méi)有充電而且仍能使用，假設(shè)每小時(shí)通話15分鐘，如果漏泄功率翻一倍的話，電話的使用壽命會(huì)降到兩天甚至更短。 

　　此外，如今手機(jī)設(shè)計(jì)中功率的高集中度導(dǎo)致設(shè)備自動(dòng)發(fā)熱，再加上設(shè)備的互連，使得芯片中溫度變化顯著。而包裝技術(shù)也對(duì)降低這種變化無(wú)能為力，盡管他們能降低芯片的平均溫度。Gradient電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化公司創(chuàng)始人、總裁兼CEO Rajit Chandra解釋道。 

　　“溫度的變化會(huì)極大程度地影響設(shè)備性能的發(fā)揮，特別是在模擬電話中；同時(shí)電線中的電遷移也會(huì)由于溫度上升而增加，從而從根本上降低產(chǎn)品壽命?！彼f(shuō)。 

　　此外，由于越來(lái)越多地采用電池供電的便攜式電子系統(tǒng)，以及包裝成本的不斷增加，導(dǎo)致市場(chǎng)對(duì)那些在最低程度地消耗功率同時(shí)又能提供高性能的集成電路的需求迅猛增長(zhǎng)。Magma設(shè)計(jì)實(shí)施業(yè)務(wù)部門的產(chǎn)品經(jīng)理Arvind Narasimhan表示。 

　　這些問(wèn)題給努力滿足功率預(yù)算的設(shè)計(jì)小組帶來(lái)了大麻煩，因?yàn)閷?duì)于電子無(wú)線設(shè)備而言，通話時(shí)間、玩游戲和播放音樂(lè)的時(shí)間和待機(jī)時(shí)間都屬于由功率驅(qū)動(dòng)的關(guān)鍵消費(fèi)特性。專注于功率分析的公司Azuro CEO Paul Cunningham解釋道。 

　　電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（EDA）軟件供應(yīng)商目前在積極設(shè)法解決上述問(wèn)題，這方面的佼佼者當(dāng)屬Cadence、Apache和Sequence。參與這一市場(chǎng)的新軍以及其他公司還包括Magma、Clear Shape、Azuro、Gradient和ArchPro。