基于通信類終端的嵌入式USB2.0 主機(jī)的測(cè)試

　　一 前言

　　在高速串行技術(shù)如此廣泛應(yīng)用的今天，簡(jiǎn)單易用的USB堪稱是PC平臺(tái)上最成功的I/O技術(shù)，普及率幾乎100%。而且隨著終端用戶對(duì)于高速USB設(shè)備應(yīng)用需求的不斷增加，越來(lái)越多的嵌入式通信類終端產(chǎn)品開(kāi)始增加了USB2.0主機(jī)接口的設(shè)計(jì)以滿足客戶的應(yīng)用需求。成熟的應(yīng)用技術(shù)由PC平臺(tái)轉(zhuǎn)向嵌入式平臺(tái)的已經(jīng)成為一種趨勢(shì)。為了滿足USB2.0一致性應(yīng)用的需求，所有的USB2.0設(shè)計(jì)都必須滿足USB IF發(fā)布的USB2.0物理層一致性測(cè)試要求。相對(duì)于比較成熟的PC平臺(tái)USB2.0 主機(jī)測(cè)試技術(shù)而言，基于通信類終端的嵌入式USB2.0 主機(jī)的測(cè)試面臨更多的挑戰(zhàn)。特別是進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)的應(yīng)用廠商而言，如何滿足USB2.0物理層一致性測(cè)試要求很大程度上需要原廠在測(cè)試模式以及測(cè)試封包方面提供更多的支持。但應(yīng)用需求的多樣化導(dǎo)致了許多設(shè)計(jì)架構(gòu)脫離了原廠的測(cè)試狀態(tài)機(jī)控制范疇，問(wèn)題接踵而來(lái)。

　　二 嵌入式USB2.0主機(jī)測(cè)試

　　1 產(chǎn)品USB部分原理及測(cè)試環(huán)境

　　產(chǎn)品USB控制原理

　　USB控制主機(jī)采用某大型通訊類方案提供商的IAD解決方案，片內(nèi)集成一個(gè)USB2.0控制器，然后通過(guò)一個(gè)USB HUB中繼對(duì)外提供2個(gè)高速主機(jī)接口。

　　測(cè)試設(shè)備：

　　DUT_USB2.0功能框圖