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          基于PXI總線的射頻儀器的特點與應(yīng)用范圍淺析

          作者: 時間:2008-06-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          談及和虛擬,可能有不少工程師會有一個概略的印象,那就是,虛擬秉持模塊化設(shè)計思想,依賴平臺,在加上共用PC資源,已經(jīng)在測試測量、控制、監(jiān)控等領(lǐng)域取得了不俗的業(yè)績。可對于測試的具體進展,尚有不少工程師還了解不深!在剛剛結(jié)束的中國第四屆PXI技術(shù)和論壇上,PXI虛擬儀器在測試領(lǐng)域取得的進展確讓不少與會者刮目相看。

          對于測試儀器來說,人們可能首先會想起那些各式各樣、大小不等的射頻模塊,還有那些繞來繞去的剛性電纜,甚至還有難裝難卸的波導(dǎo)元件。而虛擬儀器,其是利用主控和設(shè)計并與PC融合而成的測試儀器,具有活生生的數(shù)字特征,似乎與上述的射頻特征不太搭界。那么,在PXI架構(gòu)上的虛擬儀器是怎么實現(xiàn)射頻功能的呢?

          PXI虛擬儀器的設(shè)計思想

          NI公司的PXI虛擬儀器在射頻領(lǐng)域的成功突破受益于多種新技術(shù),主要包括SDR,高速背板總線,DDS,精密補償技術(shù)等。

          射頻信號發(fā)生器是射頻測試系統(tǒng)的源端設(shè)備。根據(jù)圖1的方框圖,不難發(fā)現(xiàn),該系列的信號發(fā)生器可以選用內(nèi)部或外部時鐘。當采用內(nèi)部基準時,利用了DDS技術(shù),可直接產(chǎn)生高達50MHz的射頻信號。對于高于50MHz的信號,采用系統(tǒng)中的頻綜模塊,頻綜的相位跟蹤DDS輸出,可以實現(xiàn)高達6GHz的射頻輸出,且頻率步進可以達到1Hz甚至更低。

          另外,根據(jù)分析,系統(tǒng)中采用了精密的溫度控制和補償(未經(jīng)證實)措施。通過監(jiān)控溫度,并根據(jù)變化利用預(yù)先存放在存儲表中的修正量對輸出進行補償,從而實現(xiàn)極高的精度。

          另外,NI公司也定義了自己的SDR架構(gòu)。該公司的分析儀或接收機系列,即NI-PXI-566x系列,所定義的的頻率為9KHz~2.7GHz,實時帶寬為20MHz,內(nèi)存為32~64MB。而信號源或發(fā)射機系列的定義為:250KHz~2.7GHz,實時帶寬為22MHz,內(nèi)存為32~256MB。通過SDR技術(shù),使得儀器變得更加靈活。

          高速背板技術(shù)無疑是PXI虛擬儀器的核心技術(shù),也是PXI射頻儀器的主要瓶頸之一。這種背板與傳統(tǒng)的PC背板有很大區(qū)別,因為它處理的是包括頻率極高的混合信號。系統(tǒng)中含有高達10GHz的模擬信號,包括速度極高的ADC和DAC,這些都給背板的電磁兼容設(shè)計以及電源和參考面的設(shè)計帶來很大困難,另外還有小型化的要求。目前背板上的觸發(fā)總線已經(jīng)多達近10條,并且為了保證可靠性并減小延遲,系統(tǒng)采用星形觸發(fā)方式。即由星形觸發(fā)控制產(chǎn)生多個觸發(fā)信號并送到所有的插槽,這樣可以保證各插槽在同一時間接收到觸發(fā)信號,將觸發(fā)時間誤差降到了1ns以下。

          PXI的虛擬射頻儀器的

          對于傳統(tǒng)的箱式儀器所覆蓋的X波段以上的頻段來說,也許并非PXI虛擬儀器的強項,但經(jīng)過分析,發(fā)現(xiàn)這類儀器有其自己的獨特,可以作為傳統(tǒng)的箱式射頻測試儀器的較好補充。PXI虛擬射頻儀器的主要特點包括:

          1. 具有靈活的同步和觸發(fā)功能

          2. 高速寬帶總線功能

          3. 集成度較高的綜合測試功能

          4. 具有靈活的用戶開發(fā)空間

          圖1:NI公司PXI-565x系列射頻信號發(fā)生器原理方框圖。
          圖1:NI公司PXI-565x系列射頻信號發(fā)生器原理方框圖。

          細細分析起來,上述主要特點實際上就是由PXI總線和模塊化的本質(zhì)所決定的。這些特點,NIPXI的射頻測試儀器比較適用于以下場合:

          * 比較復(fù)雜或前沿的開發(fā)

          在這種應(yīng)用中,由于處于比較前沿的預(yù)研階段,或者說是開發(fā)階段,具有許多自定義的協(xié)議,對這類協(xié)議的測試和分析,需要很多靈活的同步模式和觸發(fā)模式,這些往往在傳統(tǒng)儀器里沒有充分的提供。于是,用戶可以根據(jù)需要,靈活地構(gòu)建自己的測試驗證系統(tǒng)。這類的應(yīng)用實例非常多,包括TD-SCDMA系統(tǒng)開發(fā)測試。

          * 用戶具有獨特的需求

          在這種場合中,用戶常常具有許多特定的用途。例如,需要提取射頻的原始數(shù)據(jù),包括幅度信息和相位信息,乃至比特內(nèi)的調(diào)制信息等。這些信息可以被用來對系統(tǒng)進行調(diào)試,分析或流盤,當然也有某些信息可以用作校正的環(huán)路控制。另外,在多系統(tǒng)的復(fù)雜系統(tǒng)中,常常需要靈活的觸發(fā)和同步,這也可以發(fā)揮這類儀器的特點。

          * 要求有技術(shù)融合的應(yīng)用

          由于可以提供靈活的多種編程接口(包括Matlab,NET,VB,VC,DLL,EXE,ActiveX等),并提供開放式的軟硬件二次開發(fā)界面,使得這種儀器比較適用于需要各種技術(shù)融合的應(yīng)用。

          * 作為動態(tài)控制領(lǐng)域的一部分

          在動態(tài)控制領(lǐng)域,測試儀器不再是僅僅作為測試和檢定目的,而是將測試出來的結(jié)果直接或間接作為控制變量,來修正或校正系統(tǒng)中的受控參量。在這種應(yīng)用中,加上PC的強大功能,使得這類測試儀器能夠發(fā)揮其體積小并且靈活的功能。

          PXI射頻測試儀器實例

          那么,究竟實現(xiàn)了什么樣的射頻功能,或者說NI以及其PXI聯(lián)盟成員都推出了什么樣的射頻測試儀器呢?NI推出的射頻測試儀器大致上可以概括為以下三類:

          1. PXI RF信號產(chǎn)生和分析

          在測試系統(tǒng)中,信號產(chǎn)生是分析的源,占據(jù)著重要的作用。利用上述的設(shè)計思想,NI實現(xiàn)了系列的RF和MW信號產(chǎn)生器,包括頻率分別達到1.3GHz、3.3GHz和6.6GHz的PXI 5650、PXI 5651和PXI 5652,具有RF領(lǐng)域常用的各種模擬調(diào)制和數(shù)字調(diào)制,并實現(xiàn)了高相位噪聲和很低的信號抖動。該系列的信號產(chǎn)生器在1GHz處,偏移量為10kHz時的相位噪聲達到了-110dBc/Hz。儀器采用一塊3U的單槽結(jié)構(gòu),比較靈巧。

          2. 通用無線通信終端測試系統(tǒng)

          隨著終端功能的不斷增加和協(xié)議的復(fù)雜化導(dǎo)致測試成本不斷攀升,其中包括時間成本,從而為測試帶來巨大挑戰(zhàn)。圍繞這些挑戰(zhàn),NI研發(fā)出了靈活的終端測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)由PXI-5660再加上Labview組成。測試領(lǐng)域覆蓋了目前所有的體制,包括中國自己的TD-SCDMA。該系統(tǒng)的特點在于能夠靈活地擴展測試系統(tǒng)的并行通道數(shù)量,從而降低測試的成本。

          3. 無線網(wǎng)絡(luò)分析測試系統(tǒng)

          這類儀器的典型代表是PXI-5661。除了能夠完成常規(guī)的無線通信領(lǐng)域的測試分析,另外還提供需多矢量分析,例如3D光譜分析,I/Q正交調(diào)制分析等。該系統(tǒng)由高精度的數(shù)字化儀和高性能的變頻器組成,其頻率目前達到了2.7GHz,借助于精密衰減器,輸入動態(tài)可以達到160dB,其噪聲密度達到了-140 dBm/Hz。另外,該系統(tǒng)的一個重要的特點是靈活度,比如可以加入一個前置放大器模塊PXI-5690,就可以實現(xiàn)高達-165 dBm/Hz的噪聲密度指標。

          除上述幾大類之外,基于PXI的RF儀器還繼續(xù)向更廣的一些專業(yè)領(lǐng)域進軍。PXI聯(lián)盟成員之一的聚星儀器公司近期成功開發(fā)出了RFID射頻參數(shù)測試系統(tǒng)。據(jù)了解,該系統(tǒng)是業(yè)界第一套RFID專業(yè)測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有完備的RFID協(xié)議支持能力,支持RFID標準中的各種調(diào)制方式和編碼方式,還可以擴展支持廠家自己的指令集,從而可以覆蓋到從物理層到協(xié)議層的所有測試。



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