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          石英晶體振蕩器的微處理器溫度補償技術(shù)研究

          作者: 時間:2013-07-16 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          5 補償結(jié)果分析
          系統(tǒng)置于高低溫實驗箱中,可測得不同溫度下的輸出頻率變化量△f(△f為測得的實際頻率值與標稱頻率值之間的差值),以及此溫度下對應(yīng)的補償電壓UK,如表1所列。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/159316.htm

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          表1數(shù)據(jù)擬合后分別對應(yīng)圖8和圖9,10 MHz AT切石英晶振前頻率變化量與溫度的關(guān)系曲線和10MHz AT切石英晶振補償電壓與溫度的關(guān)系曲線兩者的變化趨勢相反,從而起到補償作用。為了更好地描述輸出頻率的變化趨勢,引入了△f/f(相對頻率變化量)來描述頻率變化關(guān)系。

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          補償后不同溫度下對應(yīng)的輸出頻率變化量如表2所列。在-20~+85℃補償后,晶振的輸出頻率變化量在±7 Hz浮動,與補償前比較,其輸出頻率變化量大大減小,從而有效地減小了頻率偏移,起到了很好的補償效果。

          結(jié)語
          本設(shè)計采用功能強大的,充分利用了芯片所具有的內(nèi)部資源并發(fā)揮軟件的優(yōu)勢,通過軟件與硬件電路相結(jié)合的方法,使經(jīng)過后的具有結(jié)構(gòu)簡單、精度高、功耗低、穩(wěn)定性高、造價低、開機即可工作等優(yōu)勢,可應(yīng)用在工程實踐領(lǐng)域。

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