digiPOT規(guī)格與架構(gòu)的解析
處理交流信號時,digiPOT的性能受帶寬和失真的限制。受寄生器件影響,帶寬是指在小于3 dB衰減時能夠通過digiPOT的最大頻率。總諧波失真 (THD)(此處定義為后四個諧波的rms之和與輸出基波值的比值)是信號通過器件時衰減的量度。這些規(guī)格涉及的性能限制由內(nèi)部digiPOT架構(gòu)決定。通過分析,我們可以更好地全面了解這些規(guī)格,減少其負面
內(nèi)部架構(gòu)已從傳統(tǒng)的串聯(lián)電阻陣列(如圖6a所示)發(fā)展至分段式架構(gòu)(如圖6b所示)。主要的改進是減少了所需內(nèi)部開關(guān)的數(shù)量。第一種情況采用串行拓撲結(jié)構(gòu),開關(guān)數(shù)量為N = 2n是分辨率的位數(shù)。 n = 10, 時,需要1024個開關(guān)
圖6. a)傳統(tǒng)架構(gòu),b)分段式架構(gòu)
專有(專利)分段式架構(gòu)采用級聯(lián)連接,可以最大限度地減少開關(guān)總數(shù)。圖6b的例子顯示的是兩段式架構(gòu),由兩種類型的模塊組成,即左側(cè)的MSB和右側(cè)的LSB。
左側(cè)上下模塊是一串用于粗調(diào)位數(shù)的開關(guān)(MSB段)。右側(cè)模塊是一串用于精調(diào)位數(shù)的開關(guān)(LSB段)。MSB開關(guān)粗調(diào)后接近RA/RB比。LSB串的總電阻等于MSB串中的單個阻性元件,LSB開關(guān)可對主開關(guān)串上的任一點進行比率精調(diào)。A和B MSB開關(guān)為互補碼。
分段式架構(gòu)的開關(guān)數(shù)量為:
N = 2m + 1 + 2n – m,
其中n是總位數(shù),m是MSB字的分辨率位數(shù)。例如n = 10 and m = 5, 則需要96個開關(guān)。
分段式方案需要的開關(guān)數(shù)少于傳統(tǒng)開關(guān)串:
兩者相差的開關(guān)數(shù) = 2n – (2m + 1 + 2n – m)
在該例中,節(jié)省的數(shù)量為
1024 – 96 = 928!
兩種架構(gòu)都必須選擇不同電阻值的開關(guān),充分考慮到模擬開關(guān)中的交流誤差源。這些CMOS(互補金屬氧化物半導(dǎo)體)開關(guān)由并行P溝道和N溝道MOSFET構(gòu)成。這種基本雙向開關(guān)可以保持相當(dāng)恒定的電阻(RON) 信號可達完整的供電軌.
帶寬
圖7顯示的是影響CMOS開關(guān)交流性能的寄生器件.
圖7.CMOS開關(guān)模式.
CDS = 漏極-源級電容; CD = 漏極-柵級 + 漏極-體電容; CS = 源級-柵級 + 源級-體電容.
傳遞關(guān)系如以下公式定義,其中包含的假設(shè)為:
源阻抗為 0
無外部負載影響
無來自CDS的影響
RLSB RMSB
其中:
RDAC是設(shè)定電阻
RPOT是端對端電阻
CDLSB是LSB段的總漏極-柵級 + 漏極-體電容
CSLSB是LSB段的總源級-柵級 + 源級-體電容
CDMSB是MSB開關(guān)的漏極-柵級 + 漏極-體電容
CSMSB是MSB開關(guān)的源級-柵級 + 源級-體電容
moff是信號MSB路徑的斷開開關(guān)數(shù)量
mon是信號MSB路徑的接通開關(guān)數(shù)量
傳遞公式受各種因素影響,與代碼存在一定關(guān)聯(lián),因此我們采用以下額外假設(shè)來簡化公式
CDMSB + CSMSB = CDSMSB
CDLSB + CSLSB >> CDSMSB
(CDLSB + CSLSB) = CW (詳見數(shù)據(jù)手冊)
The CDS對傳遞公式?jīng)]有影響,但由于其出現(xiàn)的頻率通常比極點高的多RC 低通濾波器是主要的響應(yīng)。理想的近似簡化公式為:
帶寬(BW)定義為:
其中CL是負載電容.
The BW與代碼有關(guān),最差的情況是代碼在半量程時,AD5292的數(shù)字值為29= 512,AD5291的數(shù)字值為27 = 128 (見目錄). 圖8顯示的是低通濾波效應(yīng),它受代碼影響,在不同標(biāo)稱電阻與負載電容值時會發(fā)生變化.
圖8.各種電阻值的最大帶寬與負載電容
PC板的寄生走線電容也應(yīng)加以考慮,否則最大帶寬會低于預(yù)期值,走線電容可以采用以下公式簡單計算:
其中
εR是板材的介電常數(shù)
A是走線區(qū)域(cm2)
d是層間距(cm)
如,假設(shè)FR4板材有兩個信號層和電源/接地層, εR = 4, 走線長度 = 3 cm寬度 = 1.2 mm, 層間距 = 0.3 mm; t則總走線電容約為 4 pF.
失真
THD用于量化器件作為衰減器的非線性。該非線性由內(nèi)部開關(guān)及其隨電壓變化的導(dǎo)通電阻 RON而產(chǎn)生。圖9所示為放大的幅度失真示例.
圖9.失真
與單個內(nèi)部無源電阻相比,開關(guān)的RON很小,其在信號范圍內(nèi)的變化則更小。圖10顯示的是典型的導(dǎo)通電阻特性。
圖10.CMOS電阻
電阻曲線取決于電源電壓軌,電源電壓最大時,內(nèi)部開關(guān)的RON 變化最小。電源電壓降低時,RON 變化和非線性都會隨之增加。圖11對比了低壓digiPOT在兩種供電電平下的 RON
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