單片機(jī)的干擾分析及MCU的改進(jìn)

通過一個(gè)儀器抗干擾處理的實(shí)踐，分析干擾形成錯(cuò)誤的機(jī)理。首先對干擾進(jìn)行描述，然后分析錯(cuò)誤形成的可能性以及目前解決干擾問題的難點(diǎn)，最后提出對MCU改進(jìn)的建議。

關(guān)鍵詞 抗干擾 容錯(cuò) Watchdog

　　長久以來，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的抗干擾一直是人們關(guān)心的重要問題，因?yàn)橛?jì)算機(jī)用得越來越廣，可靠性越來越重要，而抗干擾本身就是可靠性的重要組成部分。為了汽車、飛機(jī)、衛(wèi)星、反應(yīng)堆的安全，人們在抗干擾問題上花費(fèi)了大量精力與金錢，盡管已經(jīng)取得了長足的進(jìn)展，但在性價(jià)比上遠(yuǎn)不能滿足要求，以致高抗干擾的要求只是在高技術(shù)領(lǐng)域才加以考慮。本文討論了干擾對錯(cuò)誤的形成機(jī)制，提出了對MCU改進(jìn)的建議。這個(gè)建議如果實(shí)施，不僅有利于高技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用，也會(huì)惠及一般的民用領(lǐng)域。

1 干擾源的討論

　　很久以前，還在“8031+2764+14433”的年代，我們做了一批過程監(jiān)控儀表，用于滅菌過程F0的監(jiān)控，遇到了強(qiáng)烈的干擾問題。滅菌過程約30 min，由電觸點(diǎn)壓力表控制進(jìn)氣電磁閥，間接控制溫度。F0是一個(gè)溫度函數(shù)的積分值，可以反映滅菌的效果，它綜合考慮了溫度波動(dòng)的影響。當(dāng)時(shí)采取了一些抗干擾措施，例如，硬件上對信號線屏蔽，信號濾波；軟件上的智能濾波，程序復(fù)執(zhí)，程序分段保護(hù)，數(shù)據(jù)后備，端口等重復(fù)初始化，ROM的定時(shí)校驗(yàn)和檢驗(yàn)，多種出錯(cuò)報(bào)警，出錯(cuò)時(shí)重新熱啟動(dòng)（可使問題有所緩和，但偶然會(huì)有判為ROM校驗(yàn)和錯(cuò)而停機(jī)的情況出現(xiàn)）。由于當(dāng)時(shí)F0只是用作參考，問題尚不嚴(yán)重，如要掩蓋，也可以用熱啟動(dòng)代替停機(jī)；但很快F0要作為產(chǎn)品工藝參數(shù)，用記錄紙備案，于是就重新設(shè)計(jì)了監(jiān)控儀。新的監(jiān)控儀用89C51+14433,再加上光耦和TI5617 D/A轉(zhuǎn)換器，將溫度和F0變?yōu)槟M量后送到雙筆記錄儀，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品工藝過程的記錄與存檔。硬件上，光耦隔離后部分是D/A和模擬電路，軟件在原有基礎(chǔ)上添加與TI5617有關(guān)的串行通信部分。TI5617的串行通信類似I2C，由CS、DIN和SCLK三條線構(gòu)成，SCLK數(shù)據(jù)位時(shí)鐘可達(dá)到25 ns，速度很高。用于計(jì)算的周期是6 s,儀表用定點(diǎn)算法配以查表，所以留出了充足的時(shí)間做許多抗干擾的工作。在D/A用的串行通信中甚至考慮了多次重復(fù)發(fā)送的子程序，希望減少通信錯(cuò)誤的影響；但結(jié)果卻很壞，記錄紙上是一片墨帶。由于不知道通信對錯(cuò)，很可能最后一次傳送就是錯(cuò)的，于是不得不重新處理抗干擾問題。

　　經(jīng)查干擾主要發(fā)生在電磁閥動(dòng)作的時(shí)候，由于不可能在現(xiàn)場為每一個(gè)簡單的小表制作一個(gè)良好的地線，一般的市售電源濾波器件根本不起作用?，F(xiàn)場用的是220 V交流電磁閥，無法設(shè)計(jì)緩沖線路。分析認(rèn)為，電磁閥斷開時(shí)會(huì)在電源上產(chǎn)生很大的反向電壓。交流電源的示波器受到干擾，在無法看清干擾的情況下，就用數(shù)字萬用表觀察，可以觀察到1 300 V以上的讀數(shù)。考慮到數(shù)字萬用表輸入的濾波效果，真正的峰值還要大，因此推想，高頻的干擾穿越了變壓器繞組間電容，造成變壓器次級交流電壓瞬間反向。盡管反向波幅的衰減很大，但因方向已改變，整流二極管來不及響應(yīng)，已不供電，而濾波的電解電容器動(dòng)態(tài)上來不及反應(yīng)，也不供電，造成穩(wěn)壓前直流電源瞬間下降。同時(shí)它通過整流二極管，78L15、78L05等低頻器件到達(dá)二組隔離的電源，造成直流電源跌落。循此思路，發(fā)現(xiàn)TI5617的SCLK可能出現(xiàn)不正確的時(shí)鐘信號，造成數(shù)據(jù)傳送的錯(cuò)誤。TI5617的讀數(shù)發(fā)生在SCLK的下降沿，說明書上強(qiáng)調(diào)，在非傳送時(shí)減少饋通應(yīng)使SCLK=LOW，為節(jié)省電流消耗，SCLK是從光耦的基極輸出的。因此若光耦次級電源跌落，確實(shí)會(huì)造成SCLK下降而誤讀。然后我們在基極電阻（20 kΩ）上并聯(lián)0.1 μF電容，在光耦次級電源上串接高頻二極管，以防0.1 μF電容器通過光耦反向放電。采取此措施后，記錄曲線不再有墨帶。對本應(yīng)用而言，干擾問題初步解決，但仍不徹底。干擾得到解決本身證實(shí)了分析是正確的——來自電源的干擾有可能進(jìn)到直流電源部分。

　　國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 7637是針對汽車電子領(lǐng)域電源的傳導(dǎo)干擾問題的。它規(guī)定有#1、#2a/b、#3a/b、#4、#5a/b等多種測試波形，反映實(shí)際應(yīng)用中會(huì)遇到的情形。其中，關(guān)斷感性負(fù)載（例如雨刮器的馬達(dá)）引起的電壓升高，在12 V系統(tǒng)中可達(dá)50 V，雖有瞬間超過元器件耐壓而引起損傷的可能性，但不會(huì)直接引起誤動(dòng)作。而在波形#1中，關(guān)斷感性負(fù)載（例如電動(dòng)座椅的馬達(dá)和座椅的加熱系統(tǒng)）產(chǎn)生的脈沖，在電源為12 V的系統(tǒng)中1 μs可達(dá)到-100 V，衰減到10%的時(shí)間為2 ms。在波形#3a中，電源為12 V的系統(tǒng)里5 ns可達(dá)到-138 V,回到0 V的時(shí)間大約為100 ns。這些是典型數(shù)據(jù)，實(shí)際上電源線不是匹配的傳輸線，干擾波還要來回反射，情況更為復(fù)雜。在這些場合，也可能發(fā)生直流電源的跌落干擾。

　　空間的幅射干擾也是經(jīng)常遇到的問題，例如在太空或反應(yīng)堆附近，電子器件會(huì)受到重離子的轟擊而產(chǎn)生故障；又如在空港區(qū)或大電流、高電壓區(qū)域，電子器件也會(huì)受到強(qiáng)電磁輻射而發(fā)生故障。在這些場合，干擾也會(huì)引起MCU的基本門電路工作失誤。

2 Watchdog不能解決軟件可靠性問題

　　Vcc的跌落會(huì)引起MCU的誤動(dòng)作。MCU里每一個(gè)讀/寫操作都是由門電路實(shí)現(xiàn)的，門的開關(guān)依賴于門的閾值和信號的時(shí)序。電源跌落時(shí)閾值發(fā)生變化，振蕩器產(chǎn)生的信號時(shí)序也會(huì)變形。下面以8051單片機(jī)為例，考察如果干擾發(fā)生在執(zhí)行指令“MOV dir1, dir2”時(shí)會(huì)產(chǎn)生什么后果。假定錯(cuò)誤發(fā)生在指令的第1字節(jié)，最壞的情形是每個(gè)bit都反轉(zhuǎn)，而最大的概率是只有一個(gè)bit發(fā)生反轉(zhuǎn)。一個(gè)bit發(fā)生反轉(zhuǎn)的情況如表1所列。

表1