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          安捷倫在中國舉辦無線研發(fā)測試技術研討會

          作者:電子設計應用 時間:2003-03-10 來源:電子設計應用 收藏
          全球領先的跨國高科技公司科技(NYSE: A)近日宣布,將于3月下旬在北京、上海、深圳三地主辦主題為“加速您的創(chuàng)新與革命”的無線研發(fā)測試技術研討會,與從事手機、無線設備和WLAN設計的射頻工程師、協(xié)議固件工程師和項目經(jīng)理共同探討最新的測試和測量技術。

          研討會將分兩個專題同時進行: 1). 2G/2.5G/3G 手機設計與測試技術。 提供全方位的無線測試產(chǎn)品和服務,通過設計前期的測試和對數(shù)據(jù)的深入分析技術加快設計進程,從而降低總測試費用,使所設計的產(chǎn)品更快進入市場。2). WLAN 設計、測試、驗證和認證技術。通過提供加速產(chǎn)品上市時間的領先研制與開發(fā)測試解決方案加速開發(fā)進程。安捷倫的解決方案提供對多模芯片組物理層測試的支持,這是市場上第一種能完成該項測試任務的產(chǎn)品。

          本次討論會聚焦于應對現(xiàn)實研制與開發(fā)挑戰(zhàn)的解決方案,包括具體的現(xiàn)場演示。安捷倫的應用工程師將和與會者面對面地討論測試和測量問題。同時,如果與會者在工作中正在使用安捷倫產(chǎn)品,他們將為與會者提供優(yōu)化工具和運行時間的實用建議。

          會議具體安排:

          2003 年3月 24 日 北京京倫飯店二樓白鶴廳
          2003 年3月 26 日 上海錦江飯店小禮堂
          2003 年3月 28 日 深圳香格里拉飯店三樓宴會廳

          想了解該研討會的詳細情況,請致電:800-810-0189。



          關鍵詞: 安捷倫 測試測量

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