一種非接觸式電容感應(yīng)開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
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時(shí)間：2012-02-15
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圖3所示為充放電115 ms后的電荷轉(zhuǎn)換波形。本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/172094.htm
當(dāng)手指靠近時(shí)，Cmod變成電極感應(yīng)電容和手指接近產(chǎn)生的耦合電容之和CF+mod，所以Cx充電到閾值VTH的速度更快，充放電周期數(shù)n也就更?。?br /> 
這樣，檢測(cè)手是否按下就簡(jiǎn)化成了檢測(cè)周期數(shù)的變化率△n=n-nF+mod，當(dāng)△n>nTH時(shí)手指靠近。
2 電容式非接觸開(kāi)關(guān)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
2．1 電容式非接觸開(kāi)關(guān)的硬件電路設(shè)計(jì)
實(shí)現(xiàn)的電容式非接觸按鍵的硬件電路如圖4所示。該設(shè)計(jì)中，通過(guò)SMSC生產(chǎn)的CAP1166芯片循環(huán)檢測(cè)感應(yīng)電極的狀態(tài)，以判斷是否有物體靠近。該系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)非常簡(jiǎn)單，感應(yīng)電極不需要附加任何元器件。I／O口CS1～CS6可以連接6個(gè)按鍵感應(yīng)電極，芯片通過(guò)內(nèi)部硬件配置和軟件算法，對(duì)感應(yīng)電極上是否有手靠近進(jìn)行檢測(cè)。
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