單片機(jī)控制AT88SC1604卡的應(yīng)用實(shí)例

　　該區(qū)對(duì)連續(xù)輸入的錯(cuò)誤密碼的次數(shù)進(jìn)行累計(jì)。當(dāng)連續(xù)8次不正確的比較操作之后，芯片將被鎖死。芯片被鎖死之后，將拒絕任何的擦除、寫(xiě)入和比較的操作命令。

　　該區(qū)是8位長(zhǎng)，按位寫(xiě)入方式操作。在芯片初始化時(shí)是全“1”狀態(tài)，即讀出值為“FFH”。在每次比較輸入的密碼時(shí)，先按從高位到低位的順序找第一個(gè)為“1”的位，將此位寫(xiě)“0”，然后將新輸入的“校驗(yàn)密碼”與原存儲(chǔ)在SC區(qū)的“參照字”進(jìn)行比較。比較操作本身由芯片內(nèi)部自行完成，而比較結(jié)果則通過(guò)置SV標(biāo)志來(lái)判別，即比較成功時(shí)SV被置“1”。比較不成功，SV保持原來(lái)的“0”狀態(tài)。在連續(xù)8次比較錯(cuò)誤過(guò)程中每次比較操作之后計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值分別為“7FH”、“3FH”、“1FH”、“0FH”、“07H”、“03H”、“01H”、“00H”。當(dāng)計(jì)數(shù)器為“00H”后，后續(xù)的比較操作命令由于無(wú)法在“SCAC”區(qū)中找到一個(gè)為“1”的位，因而芯片拒絕繼續(xù)執(zhí)行比較操作。

　　SnAC(n=1，2，3，4)的作用與SCAC是類似的。操作控制也完全一樣。只是SCAC是限制對(duì)SC區(qū)的比較操作。而SnAC則限制對(duì)SCn區(qū)的比較操作。SCAC的控制級(jí)別最高。當(dāng)SCAC為“00H”后，芯片內(nèi)部封鎖了對(duì)SC區(qū)的比較操作，從而使對(duì)SCn的比較也被禁止。如果SCAC為非“00H”值，在對(duì)SC區(qū)的比較密碼操作成功之后，SCn能否進(jìn)行比較操作就由SnAC區(qū)的狀態(tài)值來(lái)決定。SnAC區(qū)在連續(xù)8次比較輸入過(guò)程中，每次比較操作之后計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值與SCAC的8個(gè)值一樣。(即分別為“7FH”、“3FH”、“1FH”、“0FH”、“07H”、“03H”、“OlH”、“00H”)當(dāng)SnAC為“00H”時(shí)，則“應(yīng)用n區(qū)”將被鎖死。

　　(6)擦除密碼區(qū)(EZn ,n=l.2,3,4)

　　該區(qū)用于存儲(chǔ)擦除應(yīng)用區(qū)操作的控制密碼。這些密碼一般由發(fā)行商使用。在個(gè)人化處理時(shí)輸入的最后一組“擦除密碼”，在芯片熔絲FUSE2熔斷之后將使“擦除密碼”保存在該區(qū)內(nèi)。該區(qū)不再能讀出、寫(xiě)入和擦除，只能進(jìn)行比較操作。在使用過(guò)程中如需對(duì)應(yīng)用區(qū)進(jìn)行擦除操作，都必須首先對(duì)相應(yīng)的EZ區(qū)輸送一個(gè)“擦除密碼”與之比較，在“擦除密碼比較計(jì)數(shù)器”不為“00H”的情況下，如果相比較的兩代碼完全一致，則相應(yīng)的應(yīng)用區(qū)的單元允許擦除，否則將禁止執(zhí)行擦除操作。

　　(7) 擦除密碼比較計(jì)數(shù)區(qū)(EnAC ,n=l，2，3，4)

　　擦除密碼比較計(jì)數(shù)區(qū)的作用與SCAC的作用相類似。它對(duì)各應(yīng)用區(qū)擦除密碼連續(xù)輸入錯(cuò)誤的次數(shù)進(jìn)行累計(jì)。最多連續(xù)8次不正確的密碼比較之后，該區(qū)所控制的應(yīng)用區(qū)的擦除操作即被鎖死，從而導(dǎo)致該應(yīng)用區(qū)有可能成為只讀和允許單次寫(xiě)入的狀態(tài)。

　　(8) 應(yīng)用數(shù)據(jù)區(qū)(AZn ，n=1，2，3，4)

　　該區(qū)主要給用戶使用。用于存儲(chǔ)系統(tǒng)的相關(guān)數(shù)據(jù)記錄和卡片標(biāo)識(shí)等信息。應(yīng)用數(shù)據(jù)區(qū)的寫(xiě)入與讀出分別由該區(qū)的前兩位Pn和Rn以及SV標(biāo)志的狀態(tài)控制，擦除操作則由該區(qū)的擦除密碼控制。AT88SC1604設(shè)計(jì)了四個(gè)完全隔離的分區(qū)，其中1至3分區(qū)的單元容量分別是4K位、第4分區(qū)的單元容量為3.6K位。

　　(9) 存儲(chǔ)區(qū)測(cè)試區(qū)(MTZ)

　　該區(qū)主要用于芯片生產(chǎn)后對(duì)EEPROM單元陣列進(jìn)行各項(xiàng)性能測(cè)試該區(qū)不受任何控制區(qū)狀態(tài)和標(biāo)志狀態(tài)的保護(hù)，允許對(duì)這個(gè)區(qū)進(jìn)行讀出、寫(xiě)人和擦除操作，但不能進(jìn)行比較操作。

　　應(yīng)用實(shí)例

　　基于上述1604芯片的特點(diǎn)，在石化系統(tǒng)的加油電路設(shè)計(jì)中，我們利用單片機(jī)芯片89C2051與IC卡電路組成一個(gè)獨(dú)立系統(tǒng)，控制IC卡芯片的各項(xiàng)操作，該系統(tǒng)通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)RS232通訊接口，與主控制板實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)交換，這種電路設(shè)計(jì)在硬件方面兼容性較好，只要通過(guò)協(xié)調(diào)雙方的IC卡通訊協(xié)議，可與任何帶有RS232接口的控制板或微機(jī)相連接。

　　單片機(jī)芯片89C2051的6個(gè)端口通過(guò)IOC卡座與IC卡相連接，P1.2口控制IC卡5V電源的通斷，上電時(shí)單片機(jī)芯片處于復(fù)位狀態(tài)， 6個(gè)端口均輸出“1”，IC卡電源處于斷開(kāi)狀態(tài)，ICSW為IC卡的檢測(cè)端，當(dāng)IC卡插入后，該端口與地相接，P1.3口檢測(cè)到IC 卡已插入卡座，即接通IC卡電源，IC卡操作完畢后，切斷IC卡電源，并提示用戶可以拔卡。單片機(jī)芯片其他4個(gè)端口在接通IC卡電源后，根據(jù)對(duì)卡操作的需要，對(duì)IC卡進(jìn)行復(fù)位、讀卡、校對(duì)密碼、擦卡、寫(xiě)卡等操作。

　　硬件電路

　　芯片的操作模式時(shí)序及設(shè)計(jì)程序

　　AT88SCl604芯片的操作模式有五種。它們是通過(guò)配PGM、RST、CLK等引腳信號(hào)及內(nèi)部地址計(jì)數(shù)器(IAC)的狀態(tài)組合來(lái)實(shí)現(xiàn)。

　　(1) 芯片復(fù)位操作： AT88SCl604有兩種復(fù)位方式:上電復(fù)位和控制復(fù)位。

　　上電復(fù)位： 上電復(fù)位是當(dāng)芯片加電時(shí)的最初狀態(tài)。上電復(fù)位屬于芯片

　　內(nèi)部復(fù)位。它將使芯片內(nèi)部所有的隱含標(biāo)志復(fù)位到0狀態(tài)。并使地址計(jì)數(shù)器復(fù)位到0位。

　　控制復(fù)位： 當(dāng)CLK為低時(shí)，在RST腳上的一個(gè)下降沿將便芯片產(chǎn)生復(fù)位操作?？刂茝?fù)位是將地址計(jì)數(shù)器復(fù)位到0位，而不影響任何內(nèi)部標(biāo)志的狀態(tài)。

　　注：1)RST為高時(shí)禁止計(jì)數(shù)

　　2)在CLK端降低之后，延遲一個(gè)復(fù)位維持時(shí)間Trh(min 0.1 s)RST端復(fù)位(下降沿)，同時(shí)地址計(jì)數(shù)器清零。地址計(jì)數(shù)器清零后延遲一個(gè)“數(shù)據(jù)復(fù)位有效時(shí)間”Tdvr(max 2 s)第0位單元的數(shù)據(jù)被送上I/O線。

　　FWZCX: CLR ICPGM ;復(fù)位子程序

　　NOP

　　SETB ICREST

　　NOP

　　SETB ICSDA

　　NOP

　　CLR ICCLK ;時(shí)鐘端清0

　　NOP

　　CLR ICREST ;復(fù)位端清0

　　NOP

　　RET