針對單片機的干擾分析MCU的改進

通過一個儀器抗干擾處理的實踐，分析干擾形成錯誤的機理。首先對干擾進行描述，然后分析錯誤形成的可能性以及目前解決干擾問題的難點，最后提出對MCU改進的建議。

關鍵詞 抗干擾 容錯 Watchdog

　　長久以來，計算機系統(tǒng)的抗干擾一直是人們關心的重要問題，因為計算機用得越來越廣，可靠性越來越重要，而抗干擾本身就是可靠性的重要組成部分。為了汽車、飛機、衛(wèi)星、反應堆的安全，人們在抗干擾問題上花費了大量精力與金錢，盡管已經(jīng)取得了長足的進展，但在性價比上遠不能滿足要求，以致高抗干擾的要求只是在高技術領域才加以考慮。本文討論了干擾對錯誤的形成機制，提出了對MCU改進的建議。這個建議如果實施，不僅有利于高技術領域的應用，也會惠及一般的民用領域。

1 干擾源的討論

　　很久以前，還在“8031+2764+14433”的年代，我們做了一批過程監(jiān)控儀表，用于滅菌過程F0的監(jiān)控，遇到了強烈的干擾問題。滅菌過程約30 min，由電觸點壓力表控制進氣電磁閥，間接控制溫度。F0是一個溫度函數(shù)的積分值，可以反映滅菌的效果，它綜合考慮了溫度波動的影響。當時采取了一些抗干擾措施，例如，硬件上對信號線屏蔽，信號濾波；軟件上的智能濾波，程序復執(zhí)，程序分段保護，數(shù)據(jù)后備，端口等重復初始化，ROM的定時校驗和檢驗，多種出錯報警，出錯時重新熱啟動（可使問題有所緩和，但偶然會有判為ROM校驗和錯而停機的情況出現(xiàn)）。由于當時F0只是用作參考，問題尚不嚴重，如要掩蓋，也可以用熱啟動代替停機；但很快F0要作為產品工藝參數(shù)，用記錄紙備案，于是就重新設計了監(jiān)控儀。新的監(jiān)控儀用89C51+14433,再加上光耦和TI5617 D/A轉換器，將溫度和F0變?yōu)槟M量后送到雙筆記錄儀，實現(xiàn)產品工藝過程的記錄與存檔。硬件上，光耦隔離后部分是D/A和模擬電路，軟件在原有基礎上添加與TI5617有關的串行通信部分。TI5617的串行通信類似I2C，由CS、DIN和SCLK三條線構成，SCLK數(shù)據(jù)位時鐘可達到25 ns，速度很高。用于計算的周期是6 s,儀表用定點算法配以查表，所以留出了充足的時間做許多抗干擾的工作。在D/A用的串行通信中甚至考慮了多次重復發(fā)送的子程序，希望減少通信錯誤的影響；但結果卻很壞，記錄紙上是一片墨帶。由于不知道通信對錯，很可能最后一次傳送就是錯的，于是不得不重新處理抗干擾問題。

　　經(jīng)查干擾主要發(fā)生在電磁閥動作的時候，由于不可能在現(xiàn)場為每一個簡單的小表制作一個良好的地線，一般的市售電源濾波器件根本不起作用?，F(xiàn)場用的是220 V交流電磁閥，無法設計緩沖線路。分析認為，電磁閥斷開時會在電源上產生很大的反向電壓。交流電源的示波器受到干擾，在無法看清干擾的情況下，就用數(shù)字萬用表觀察，可以觀察到1 300 V以上的讀數(shù)。考慮到數(shù)字萬用表輸入的濾波效果，真正的峰值還要大，因此推想，高頻的干擾穿越了變壓器繞組間電容，造成變壓器次級交流電壓瞬間反向。盡管反向波幅的衰減很大，但因方向已改變，整流二極管來不及響應，已不供電，而濾波的電解電容器動態(tài)上來不及反應，也不供電，造成穩(wěn)壓前直流電源瞬間下降。同時它通過整流二極管，78L15、78L05等低頻器件到達二組隔離的電源，造成直流電源跌落。循此思路，發(fā)現(xiàn)TI5617的SCLK可能出現(xiàn)不正確的時鐘信號，造成數(shù)據(jù)傳送的錯誤。TI5617的讀數(shù)發(fā)生在SCLK的下降沿，說明書上強調，在非傳送時減少饋通應使SCLK=LOW，為節(jié)省電流消耗，SCLK是從光耦的基極輸出的。因此若光耦次級電源跌落，確實會造成SCLK下降而誤讀。然后我們在基極電阻（20 kΩ）上并聯(lián)0.1 μF電容，在光耦次級電源上串接高頻二極管，以防0.1 μF電容器通過光耦反向放電。采取此措施后，記錄曲線不再有墨帶。對本應用而言，干擾問題初步解決，但仍不徹底。干擾得到解決本身證實了分析是正確的——來自電源的干擾有可能進到直流電源部分。

　　國際標準ISO 7637是針對汽車電子領域電源的傳導干擾問題的。它規(guī)定有#1、#2a/b、#3a/b、#4、#5a/b等多種測試波形，反映實際應用中會遇到的情形。其中，關斷感性負載（例如雨刮器的馬達）引起的電壓升高，在12 V系統(tǒng)中可達50 V，雖有瞬間超過元器件耐壓而引起損傷的可能性，但不會直接引起誤動作。而在波形#1中，關斷感性負載（例如電動座椅的馬達和座椅的加熱系統(tǒng)）產生的脈沖，在電源為12 V的系統(tǒng)中1 μs可達到-100 V，衰減到10%的時間為2 ms。在波形#3a中，電源為12 V的系統(tǒng)里5 ns可達到-138 V,回到0 V的時間大約為100 ns。這些是典型數(shù)據(jù)，實際上電源線不是匹配的傳輸線，干擾波還要來回反射，情況更為復雜。在這些場合，也可能發(fā)生直流電源的跌落干擾。

　　空間的幅射干擾也是經(jīng)常遇到的問題，例如在太空或反應堆附近，電子器件會受到重離子的轟擊而產生故障；又如在空港區(qū)或大電流、高電壓區(qū)域，電子器件也會受到強電磁輻射而發(fā)生故障。在這些場合，干擾也會引起MCU的基本門電路工作失誤。

2 Watchdog不能解決軟件可靠性問題

　　Vcc的跌落會引起MCU的誤動作。MCU里每一個讀/寫操作都是由門電路實現(xiàn)的，門的開關依賴于門的閾值和信號的時序。電源跌落時閾值發(fā)生變化，振蕩器產生的信號時序也會變形。下面以8051單片機為例，考察如果干擾發(fā)生在執(zhí)行指令“MOV dir1, dir2”時會產生什么后果。假定錯誤發(fā)生在指令的第1字節(jié)，最壞的情形是每個bit都反轉，而最大的概率是只有一個bit發(fā)生反轉。一個bit發(fā)生反轉的情況如表1所列。

表1